爐溫測(cè)試儀，爐溫跟蹤儀，爐溫儀，爐溫曲線測(cè)試儀，爐溫測(cè)量?jī)x，爐溫記錄儀，溫度記錄儀，溫度跟蹤儀，溫度記錄儀，爐溫，

大家都知道美國(guó)的一個(gè)產(chǎn)品,其隔熱盒顯然是糊弄中國(guó)人之杰作，起初使用儀器表面溫度就較高，隨著使用次數(shù)的增加，其性能不斷變?nèi)?，基本沒到質(zhì)保期或剛過質(zhì)保期，其儀器就可能產(chǎn)生快要燒壞或已燒壞之可能，質(zhì)保中途如發(fā)現(xiàn)儀器溫度已較高，其解決辦法很簡(jiǎn)單，就是讓再買一個(gè)隔熱盒。iBoo爐溫測(cè)試儀，中國(guó)高精度，高科技，自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)中國(guó)爐溫測(cè)試儀的領(lǐng)艦者。而有關(guān)于英國(guó)的產(chǎn)品大家也知道的，我們得承認(rèn)其做工之精良，其性能之優(yōu)越。問題是，英國(guó)的隔熱盒性能是時(shí)間衰變的，經(jīng)研究其衰變問題不是技術(shù)問題，而是讓中國(guó)人先好用一段時(shí)間，然后性能下降了，然后就是不能使用，后建議：再買一臺(tái)吧。

國(guó)產(chǎn)爐溫測(cè)試儀，主板設(shè)計(jì)起初只是為完成簡(jiǎn)單測(cè)試，主板很簡(jiǎn)單，有些只是不到10個(gè)小部件就行了。隨著實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)的增加，發(fā)現(xiàn)問題的多樣，主板設(shè)計(jì)現(xiàn)在也逐步趨向復(fù)雜完備化。

這就是國(guó)產(chǎn)爐溫測(cè)試儀原來出現(xiàn)過一些特別精小的后來又變大的主要原因。同時(shí)由于電路板集成度的提高，爐溫測(cè)試儀主板發(fā)展趨勢(shì)依然是越來越小。爐溫測(cè)試儀本體的體積的減少，為爐溫測(cè)試儀的更廣泛應(yīng)用提供了隔熱方面的有效空間。

從目前主流來看，國(guó)產(chǎn)爐溫測(cè)試儀主板可靠與穩(wěn)定性與進(jìn)口幾乎已經(jīng)沒有差別了，特別是中國(guó)臺(tái)灣的爐溫測(cè)試儀，表現(xiàn)非常突出，已經(jīng)成為挑戰(zhàn)進(jìn)口產(chǎn)品的領(lǐng)i頭兵。

退火點(diǎn): 玻璃在成型過程中，由于經(jīng)受了劇烈的溫度變化，使內(nèi)外層產(chǎn)生溫度梯度，并且由于制品的形狀、厚度、受冷卻程度等的不同，引起制品中產(chǎn)生不規(guī)則的熱應(yīng)力。應(yīng)注意的是SMA上所有元件在這一段結(jié)束時(shí)應(yīng)具有相同的溫度，否則進(jìn)入到回流段將會(huì)因?yàn)楦鞑糠譁囟炔痪a(chǎn)生各種不良焊接現(xiàn)象。這種熱應(yīng)力能降低制品的機(jī)械強(qiáng)度和熱穩(wěn)定性，也影響玻璃的光學(xué)均一性，若應(yīng)力超過制品的極限強(qiáng)度，便會(huì)自行破i裂。所以玻璃制品中存在不均勻的熱應(yīng)力是一個(gè)嚴(yán)重的缺陷。 退火是一種熱處理過程，可使玻璃中存在的熱應(yīng)力盡可能消除或減小至允許值。