一六儀器  國內外通力合作打造高性價比X熒光測厚儀 穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng),專利獨特聚焦和變距設計,多元EFP算法,簡便快速測試各種涂鍍層的厚度及成分比例

測厚儀的測試方法主要有：磁性測厚法，測厚法，電解測厚法，渦流測厚法，超聲波測厚法。

 測量注意事項：1.測量前要注意周圍其他的電器設備會不會產生磁場，如果會將會干擾磁性測厚法。

2.測量時要注意不要在內轉角處和靠近試件邊緣處測量，因為一般的測厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。

3在測量時要保持壓力的恒定，否則會影響測量的讀數

4.在進行測試的時候要注意儀器測頭和被測試件的要直接接觸，因此超聲波測厚儀在進行對側頭清除附著物質。

江蘇一六儀器   X熒光光譜測厚儀

應用領域：

線路板、引線框架及電子元器件接插件檢測

鍍純金、K金、鉑、銀等各種飾品的膜層成分和厚度分析

手表、精密儀表制造行業(yè)

釹鐵硼磁鐵上的Ni/Cu/Ni/FeAIB

汽車、五金、電子產品等緊固件的表面處理檢測

X射線測厚儀的安全問題：

其實從科學的角度分析，20Kv的X射線能量本身就很低，不知道你見過牙片機嗎？那個還60KV以上呢，從你給的這個數值來看應該是測量紙或者鋁箔之類的低密度、很薄的物品的，這樣看來，即便這中能量的X射線一直不停的對直你本人進行照射都不會有問題，何況還是折射和衍射，折射和衍射后的能量與原來的能量比是非常非常低的，200CI的Co-60源產生的射線，經過6次折射可以達到環(huán)境水平，可見能量損耗之強，衍射就更不用說了 ，這種能量的X射線根本就不會有衍射產生的，不用擔心，所以，切莫恐慌。5μm測量速度：較高9400Hz測量距離：10～200mm被測體水平方向運動速度較高560m/min。

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X射線測厚儀測量精度的影響因素

X射線源的衰減對于工廠現場的的標定過程中,隨著使用時間的增加,燈管的曲線會發(fā)生變化,在同一電壓下,隨著使用燈管時間的遞加,厚度偏差會越來越大,因此,X射線源的衰減,是影響測量精度的一個主要原因。凡能使超聲波以一恒定速度在其內部傳播的各種材料均可采用此原理測量。除了正常使用過程中X射線源會出現衰減,在出現某些故障是,也會發(fā)生突發(fā)性的衰減,出現標準化通過不過,反饋的電壓與工廠現場標準電壓相差巨大,發(fā)生這種情況,X射線測厚儀的測量精度肯定是不準確的。