測(cè)量單元主要包括：工裝定位系統(tǒng)、機(jī)器人＋激光測(cè)頭＝測(cè)量系統(tǒng)、系統(tǒng)自檢系統(tǒng)（含溫度補(bǔ)償）、控制系統(tǒng)、車(chē)型識(shí)別系統(tǒng)（柔性化生產(chǎn)線）、數(shù)據(jù)分析系統(tǒng)。視覺(jué)測(cè)量系統(tǒng)工作原理見(jiàn)圖2：使用平面激光照射被測(cè)物體表面，采集二維平面數(shù)據(jù)；使用激光線照射被測(cè)物體采集第三維數(shù)據(jù)；根據(jù)采集數(shù)據(jù)通過(guò)專(zhuān)業(yè)軟件進(jìn)行分析；通過(guò)相關(guān)算法得出被測(cè)物體或特征的位移、形變以及其他幾何特征的變化。

純白畫(huà)面測(cè)試常用于視覺(jué)系統(tǒng)污點(diǎn)測(cè)試，測(cè)試方法是逐個(gè)比較相鄰像素點(diǎn)的灰度值，如果發(fā)生突變，則認(rèn)為出現(xiàn)污點(diǎn)。該測(cè)試需注意的是外界光源效果對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響，以及邊緣部份光強(qiáng)較弱導(dǎo)致的誤判。這都必須在設(shè)備開(kāi)發(fā)和軟件計(jì)算時(shí)考慮進(jìn)去。如果被測(cè)體是一個(gè)6-10寸的LCD屏，現(xiàn)有CCD無(wú)法一次型測(cè)量這么大的全部畫(huà)面，而測(cè)試需求為整個(gè)畫(huà)面都要測(cè)試，所以必須讓產(chǎn)品或CCD在測(cè)試過(guò)程中移動(dòng)多次。

字符檢測(cè)是機(jī)器視覺(jué)檢測(cè)中很常見(jiàn)的一種測(cè)試，通常的方法是對(duì)所有阿拉伯?dāng)?shù)字和英文字母建立模型，然后通過(guò)模型匹配的方法進(jìn)行檢測(cè)，對(duì)規(guī)則清晰的字符，識(shí)別率可達(dá)99%以上。黑白方格畫(huà)面常用于MTF的測(cè)試，用來(lái)計(jì)算顯示黑白顏色的對(duì)比效果。對(duì)該畫(huà)面的判別要求不要計(jì)算MTF，而只需要判別是否正常顯示該畫(huà)面?？山厝∧骋徊糠莓?huà)面做分析處理。軟件計(jì)算方法，可通過(guò)邊緣判定方法，確定畫(huà)面是否呈現(xiàn)有規(guī)律的方形的邊界。并通過(guò)對(duì)像素灰度值的算，確定畫(huà)面為黑白兩色，從而確定畫(huà)面為黑白方塊畫(huà)面。

由于缺陷的存在，在其周?chē)桶l(fā)生了應(yīng)力集中及變形，在圖像中也容易觀察。若遇到光透射型缺陷(如裂紋、氣泡等)，光線在該缺陷位置會(huì)發(fā)生折射，光的強(qiáng)度比周?chē)囊?，因而相機(jī)靶面上探測(cè)到的光也相應(yīng)增強(qiáng)；若遇到光吸收型(如砂粒等)雜質(zhì)，則該缺陷位置的光會(huì)變?nèi)?，相機(jī)靶面上探測(cè)到的光比周?chē)墓庖酢７治鱿鄼C(jī)采集到的圖像信號(hào)的強(qiáng)弱變化、圖像特征，便能獲取相應(yīng)的缺陷信息。