TS7600分光測色儀在CIE推薦的D8幾何光學(xué)照明條件下，分光測色儀TS7600可測量樣品/熒光樣品的SCI、SCE反射率數(shù)據(jù)，在多種顏色空間下，能夠?qū)Ω鞣N色差公式、顏色指數(shù)進(jìn)行測量和表述。借助泰雙TS7600分光測色儀可輕松實(shí)現(xiàn)顏色的傳遞，，也可做為配色系統(tǒng)的檢測設(shè)備。

色差儀原理是什么？

色差儀是模擬人眼對(duì)紅、綠、藍(lán)光感應(yīng)的光學(xué)測量儀器，主要是根據(jù)CIE色空間的Lab，Lch www.3nhr.org.cn原理，測量顯示出樣品與被測樣品的色差△E以及△Lab值，可測量樣品的反射色度、吸收率、亮度以及各種色值等等。它能滿足塑料，涂料，紡織，科研學(xué)術(shù)，，食品等行業(yè)的分析及控制各類生產(chǎn)流程品質(zhì)，來料質(zhì)量及工作上的測色需要。

在色彩管理學(xué)中，色彩工具除了常見的各種色卡，還有很多鮮為人知的色彩工具，譬如：標(biāo)準(zhǔn)對(duì)色燈箱、色差儀、分光測色儀、屏幕校色儀以及色彩檢測儀讀色器等等。

通俗的說就是色差儀可以檢測樣品間的色差大小，通過測出的色差數(shù)據(jù)為你提供配色的參考方案，以便控制生產(chǎn)過程。

泰雙TS7700分光測色儀特點(diǎn)

雙光路系統(tǒng)，可見光范圍內(nèi)光學(xué)分辨率小于10nm，，可同時(shí)測量樣品SCI、SCE光譜;

測量樣品光譜,Lab數(shù)據(jù)，可用于配色和顏色傳遞;

硬件配置高:3.5吋TFT真彩屏,電容觸摸屏,1000線閃耀光柵，光敏面積較大的硅光電池陣列探測器等；

泰雙TS7700配有顏色管理軟件，連接電腦使用，實(shí)現(xiàn)更多功能擴(kuò)展。儀器性能穩(wěn)定、測量顏色、功能強(qiáng)大，在塑膠電子、油漆涂料、紡織印染、印刷紙品、汽車、、化妝品和食品等行業(yè)，在科研機(jī)構(gòu)、實(shí)驗(yàn)室領(lǐng)域均有廣泛應(yīng)用。

USB/藍(lán)牙雙通訊模式，，適應(yīng)性更廣；

超級(jí)耐臟、穩(wěn)定的標(biāo)準(zhǔn)白板;

大容量存儲(chǔ)空間，可存儲(chǔ)30000條以上測試數(shù)據(jù)

2/10標(biāo)準(zhǔn)觀察者角度，多種光源模式，多種表色系，符合多種標(biāo)準(zhǔn)的色度指標(biāo)，滿足各種客戶對(duì)顏色測量的需求；

同色異譜指數(shù)Mt，

沾色牢度,變色牢度,力份,遮蓋度

8度光澤度,555色調(diào)分類

觀察者角度    2°/10°www.3nh.org.cn

觀測光源       D65,A,C,D50,D55,D75,F1,F2(CWF),F3,F4，F(xiàn)5，F(xiàn)6,F7(DLF),F8,F9，F(xiàn)10(TPL5),F11(TL84),F12(TL83/U30)

測量時(shí)間       約1.5s（同時(shí)測試SCI/SCE 約3.2s）

YS4560高精度分光測色儀采用符合CIE N.15的45/0（45度環(huán)形照明，0度接收）幾何光學(xué)結(jié)構(gòu)，采用凹面光柵分光方式，可測量樣品反射率及各種色度數(shù)據(jù)。儀器配備Φ8、Φ4mm雙測量口徑,用于交通路標(biāo)、塑膠電子、油漆油墨、紡織服裝印染、印刷、陶瓷等行業(yè)顏色測量和品質(zhì)控制。儀器有單獨(dú)的UV光源，可用于熒光樣品測量。儀器內(nèi)置GB 2893、GB/T 18833標(biāo)準(zhǔn)色，可手動(dòng)自定義多邊形矩形容差，一鍵實(shí)現(xiàn)交通路標(biāo)、標(biāo)線、反光膜的亮度因數(shù)、色品坐標(biāo)測量。

TS7036分光色差儀具有優(yōu)美、流暢的外形與舒適的握感，符合人體力學(xué)的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，貼合掌心適合連續(xù)性檢測工作，讓您使用起來又快又輕松。增加了自動(dòng)測量的易測裝置，便攜快捷、易測易用。

TS7036分光色差儀提供CIE

LAB,XYZ,Yxy,LCh,CIE LUV,s-RGB,βxy,DIN Lab99 Munsell(C/2)顏色空間，以及D65,A,C,D50,D55,D75,F1,F2(CWF),F3,F4，F(xiàn)5，F(xiàn)6,F7(DLF),F8,F9，F(xiàn)10(TPL5),F11(TL84),F12(TL83/U30)多種觀測光源，可以滿足不同測量條件下的特殊測量需求。