廣州勱博——粒度計(jì)數(shù)儀經(jīng)銷

進(jìn)性與：Multisizer Series庫(kù)爾特計(jì)數(shù)及粒度分析儀用于美國(guó)NASA太空總署從月球上采集的土壤樣品的粒度分析及顆粒計(jì)數(shù)；LS Series 激光粒度儀用于美國(guó)NASA太空總署發(fā)射火星車的火箭i燃料成份的粒度控制的分析。產(chǎn)品已成為“高準(zhǔn)確性”、“高分辨率”的代名詞，在用戶中享有盛譽(yù)。在粒度分析行業(yè)發(fā)展中一直發(fā)揮著深遠(yuǎn)的影響力，更具有當(dāng)之無(wú)愧的領(lǐng)導(dǎo)地位。

   儀器能實(shí)時(shí)準(zhǔn)確地測(cè)量所在環(huán)境的微粒數(shù)量和分布，并進(jìn)行各種測(cè)量參數(shù)設(shè)定，如自動(dòng)實(shí)時(shí)顯示，粒徑選擇，定時(shí)、延i時(shí)和重復(fù)測(cè)量，平均測(cè)量。時(shí)間和日期設(shè)定、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)和打印、計(jì)數(shù)超限報(bào)警等功能均由內(nèi)置微機(jī)控制和實(shí)現(xiàn)，可監(jiān)測(cè)激光粒子傳感器的工作狀態(tài)。

貝克曼庫(kù)爾特新一代LS 13 320 XR將激光衍射粒度分析提升到了一個(gè)更高的水平，升級(jí)版PIDS專利技術(shù)（專利號(hào)：4953978；5104221）、優(yōu)化的132枚檢測(cè)器，保證了儀器分辨率更高，結(jié)果更準(zhǔn)確，再現(xiàn)性更好。您不僅可以測(cè)量粒徑范圍更寬的顆粒，而且可以更快地檢測(cè)到顆粒粒徑間極細(xì)微的差異。PIDS技術(shù)，真正實(shí)現(xiàn)10nm粒徑測(cè)量；新型的干、濕進(jìn)樣模塊，“即插即用”，滿足不同的分析要求，靈活便利。

廣泛適用于材料、化工、制藥、精細(xì)陶瓷、造紙、化妝品、冶金等行業(yè)以顆粒物作為生產(chǎn)原料或中間體的實(shí)驗(yàn)室分析和工業(yè)生產(chǎn)中質(zhì)量控制等諸多領(lǐng)域。WJL激光粒度儀具有結(jié)構(gòu)緊湊、體積小巧，操作簡(jiǎn)便等顯著特點(diǎn)，采用計(jì)算機(jī)自動(dòng)控制運(yùn)用Mie散射理論測(cè)量方法。

貝克曼庫(kù)爾特激光衍射粒度分析儀LS 13 320 XR主要特點(diǎn)優(yōu)于ISO 13 320技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)符合FDA的21 CFR Part 11標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)器數(shù)量更多，高達(dá)132枚獨(dú)立物理位置檢測(cè)器，對(duì)應(yīng)高達(dá)136個(gè)真實(shí)數(shù)據(jù)通道，能夠清晰區(qū)分不同粒度等級(jí)間散射光強(qiáng)譜圖差異，確保不缺漏絲毫信息，快速、準(zhǔn)確的真實(shí)粒度測(cè)量。專利設(shè)計(jì)的“X”型對(duì)數(shù)排布檢測(cè)器陣列，可以準(zhǔn)確記錄散射光強(qiáng)信號(hào)，不管單峰、多峰，準(zhǔn)確分析粒度分布。

僅需3mL樣品即可獲得完i美的 HIAC 計(jì)數(shù)結(jié)果可快速獲取結(jié)果提高了實(shí)驗(yàn)室的處理時(shí)間，利用內(nèi)置的菜單驅(qū)動(dòng)標(biāo)準(zhǔn)可在一分鐘內(nèi)處理樣品并報(bào)告顆粒數(shù)HIAC 無(wú)與i倫比的準(zhǔn)確性、可靠性和售后服務(wù)。HIAC 8012 是業(yè)內(nèi)主力！HIAC 8012 液體顆粒計(jì)數(shù)器憑借業(yè)界內(nèi)堪稱的支持和服務(wù)水平， 以及超過(guò)25年的現(xiàn)場(chǎng)使用經(jīng)驗(yàn)，成為行業(yè)內(nèi)的標(biāo)準(zhǔn)，其可靠性傲視全球。 符合 ISO 4406， NAS 1638 標(biāo)準(zhǔn)和用戶自定義測(cè)試標(biāo)準(zhǔn) MTD、 ACFTD以及 ISO 11171 顆粒計(jì)數(shù)標(biāo)準(zhǔn)。

全自動(dòng)運(yùn)算分析功能，多峰自動(dòng)檢測(cè)，無(wú)需事先猜測(cè)峰型，無(wú)需選擇分析模型，提供客觀的報(bào)告。升級(jí)版PIDS技術(shù)提供創(chuàng)新的高分辨率納米粒度分析功能，真正實(shí)現(xiàn)10nm下限峰值測(cè)量。PIDS技術(shù)不僅可以直接檢測(cè)小至10 nm的顆粒，而且還可以直接檢測(cè)納米級(jí)的多峰分布。納米分析功能與微米分析功能合二為一，功能強(qiáng)大，真正10nm的測(cè)量可使其作為獨(dú)立的高分辨率納米粒度分析儀使用。

檢測(cè)精密度：集電子光學(xué)、電源電路、試品超聲波分散化、循環(huán)系統(tǒng)、清理集成化構(gòu)造，粒度計(jì)數(shù)儀多少錢，試品在管路內(nèi)的流動(dòng)性速度快，防止了試品分散化后的層次和再次團(tuán)圓。相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差、可靠性超過(guò)國(guó)外同類型儀器設(shè)備精i確測(cè)量水準(zhǔn)，D50粒度相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差偏差超過(guò)1％測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：運(yùn)動(dòng)控制系統(tǒng)自動(dòng)式實(shí)際操作，只需按1個(gè)鍵， 試品分散化池中會(huì)全自動(dòng)漏水。