手持光譜儀的原理

在XRF分析法中，從光發(fā)射管里發(fā)射出來(lái)的高能初級(jí)射線(xiàn)光子會(huì)撞擊樣本元素。這些初級(jí)光子含有足夠的能量可以將里層即K層或L層的電子撞擊脫軌。這時(shí)，原子變成了不穩(wěn)定的離子。由于電子本能會(huì)尋求穩(wěn)定，外層L層或M層的電子會(huì)進(jìn)入彌補(bǔ)內(nèi)層的空間。在這些電子從外層進(jìn)入內(nèi)層的過(guò)程中，它們會(huì)釋放出能量，我們稱(chēng)之為二次X射線(xiàn)光子。而整個(gè)過(guò)程則稱(chēng)為螢光輻射。每種元素的二次射線(xiàn)都各有特征。而X射線(xiàn)光子螢光輻射產(chǎn)生的能量是由電子轉(zhuǎn)換過(guò)程中內(nèi)層和外層之間的能量差決定的。例如，鐵原子Fe的Kα能量大約是6.4千電子伏。特定元素在一定時(shí)間內(nèi)所發(fā)射出來(lái)的X射線(xiàn)的數(shù)量或者密度，能夠用來(lái)衡量這種元素的數(shù)量。典型的XRF能量分布光譜顯示了不同能量時(shí)光子密度的分布情況。

手持式光譜儀在使用前需要注意哪些？

評(píng)定一下分析的速度

手持式光譜儀通常有兩種型號(hào)，一種是全譜，另一種是掃描型。如果是全譜的話(huà)，一般一分鐘72個(gè)元素。如果是掃描型的話(huà)，速度相對(duì)來(lái)說(shuō)要慢一點(diǎn)?，F(xiàn)在除了一些特殊行業(yè)還在使用掃描型的，其他的基本上都是用全譜的了。不是掃描型的不好，只是相對(duì)全譜來(lái)說(shuō)，在技術(shù)這一塊就落后了一點(diǎn)。

手持式光譜儀——性能介紹

優(yōu)良連通性能助力工業(yè)4.0變革：

VANTA Element-S型號(hào)分析儀由奧林巴斯成熟的Axon技術(shù)驅(qū)動(dòng)，具有與VANTA系列其他分析儀相同的高計(jì)數(shù)率和穩(wěn)定性，可使用戶(hù)迅速獲得檢測(cè)結(jié)果和投資回報(bào)。除具備了VANTA系列分析儀檢測(cè)迅速、結(jié)果可靠、堅(jiān)固耐用、連通性好等基本特性，可選配的無(wú)線(xiàn)連通性能使VANTA Element-S型號(hào)分析儀順應(yīng)了工業(yè)4.0的變革潮流，走向智能化。

應(yīng)用于電網(wǎng)行業(yè)的手持式光譜儀

隨著電力建設(shè)迅猛發(fā)展，金屬技術(shù)監(jiān)督的發(fā)展面臨著新的機(jī)遇和挑戰(zhàn)。一方面是設(shè)備在材料于結(jié)構(gòu)方面的問(wèn)題逐漸凸顯，為金屬技術(shù)監(jiān)督的發(fā)展提供機(jī)遇，諸如橡膠、陶瓷、混凝土等等材料問(wèn)題急需技術(shù)支持，大型金屬構(gòu)架、支撐設(shè)備等結(jié)構(gòu)件缺乏有效的檢測(cè)，新材料、新工藝引發(fā)的設(shè)備故障缺乏專(zhuān)業(yè)技術(shù)支撐。另一方面是生產(chǎn)中急需發(fā)現(xiàn)問(wèn)題的檢測(cè)手段和解決問(wèn)題的技術(shù)方案，這給金屬技術(shù)監(jiān)督帶來(lái)了巨大的挑戰(zhàn)！

奧林巴斯手持式合金分析儀主要應(yīng)用在化工、金屬冶煉、廢舊金屬的回收、壓力容器、電力電站、石油化工、精細(xì)化工、制藥、航空航天、石化建設(shè)等行業(yè)中。用于庫(kù)存材料管理、安裝材料復(fù)檢、質(zhì)量保證與質(zhì)量控制（QA/QC）、廢舊金屬鑒別等現(xiàn)場(chǎng)的合金元素分析和牌號(hào)鑒別（PMI）。憑借高質(zhì)量的產(chǎn)品，完善的售后服務(wù)，贏(yíng)得了越來(lái)越多用戶(hù)的認(rèn)可和贊譽(yù)。