工業(yè)內(nèi)窺鏡的檢測原理及方法介紹

檢測原理

定義

中文名稱:無損探傷、無損檢查、無損檢驗(yàn)、無損檢測、無損評價(jià)

英文名稱:nondestructive testing，NDT，nondestructive evaluating，NDE;nondestructive test

工業(yè)內(nèi)窺鏡，是無損檢測的一個(gè)分支，也可以說是專門的一個(gè)檢測技術(shù)。

方法目視檢測(VT)、射線照相檢驗(yàn)(RT)、超聲檢測(UT)、磁粉檢測(MT)和液體滲透檢測(PT) 四種。其他無損檢測方法:渦流檢測(ET)、聲發(fā)射檢測(AT)、熱像/紅外(TIR)、泄漏試驗(yàn)(LT)、交流場測量技術(shù)(ACFMT)、漏磁檢驗(yàn)(MFL)、遠(yuǎn)場測試檢測方法(RFT)等。

工業(yè)內(nèi)窺鏡的設(shè)計(jì)優(yōu)勢

兼具舒適性和人體工程學(xué)設(shè)計(jì)。它搭載的高清觸摸屏顯示器以及高清激光光源，可在任何條件下傳輸出清晰明亮的圖像，易于發(fā)現(xiàn)微小的異物。同時(shí)，為了減少工作強(qiáng)度，維修工程師還可以將觸摸屏從主機(jī)上卸下，放置在更為便捷舒適的位置。另外，IPLEX NX內(nèi)置通道解決方案中選配的便攜遙控手柄，將孔探設(shè)備的手持式分量減少至（0.2公斤/0.4磅），實(shí)現(xiàn)了輕松化操作。很大程度減少了因?yàn)槠谒鶎?dǎo)致的人為差錯的幾率；使得孔探人員可以將更多的注意力集中在屏幕上，從而快速清除外來物碎片、有效完成孔探檢查工作。

工業(yè)內(nèi)窺鏡的優(yōu)點(diǎn)

我們用先進(jìn)的UVLED光源模組技術(shù)，代替?zhèn)鹘y(tǒng)的UV適配器或者外置笨重的無防護(hù)性能的UV光源。先進(jìn)的UVLED模組可以無縫內(nèi)置到奧林巴斯的工業(yè)內(nèi)窺鏡中，無需任何外置附件和軟件升級，即可現(xiàn)場實(shí)現(xiàn)熒光功能的切換。

這些先進(jìn)UVLED光源，能產(chǎn)生一定量的紫外線。這種紫外線輸出對于檢查員來說是一個(gè)非常有用的工具，使他們能夠?qū)VI內(nèi)窺鏡和紫外線檢查結(jié)合起來。

利用這一有趣的組合，我們能夠確定該設(shè)備的新應(yīng)用領(lǐng)域，并利用這一附加功能進(jìn)一步提升我們的奧林巴斯工業(yè)內(nèi)窺鏡。