【廣告】
能量色散X射線熒光光譜儀技術(shù)原理
江蘇一六儀器 國內(nèi)外通力合作打造高性價比X熒光測厚儀 穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng),專利獨特聚焦和變距設(shè)計,多元EFP算法,簡便快速測試各種涂鍍層的厚度及成分比例
能量色散X射線熒光光譜儀主要由激發(fā)、色散、探測、記錄及數(shù)據(jù)處理等單元組成。激發(fā)單元的作用是產(chǎn)生初級X射線。
它由高壓發(fā)生器和X光管組成。后者功率較大,用水和油同時冷卻。色散單元的作用是分出想要波長的X射線。它由樣品室、狹縫、測角儀、分析晶體等部分組成。
能量色散X射線熒光光譜儀技術(shù)原理
能量色散X射線熒光光譜儀是一種波長較短的電磁輻射,凡間是指能t局限在0.1^-100keV的光子。能量色散X射線熒光光譜儀與物質(zhì)的互相效果首要有熒光、接收和散射三種。
能量色散X射線熒光光譜儀是由物質(zhì)中的構(gòu)成元素發(fā)生的特征輻射,經(jīng)過側(cè)里和剖析樣品發(fā)生的x射線熒光,即可獲知樣品中的元家構(gòu)成,獲得物質(zhì)成分的定性和定量信息。
鍍層測厚儀|光譜測厚儀|X-ray測厚儀|X熒光測厚儀|凃?qū)幽ず駜x----一六儀器
X射線測厚儀測量精度的影響因素有哪些
第二,在X射線測厚儀通過施加高壓釋放出X射線時,X射線途經(jīng)環(huán)境的溫度濕度也會影響X射線對被測物體的測量。尤其是在熱軋的過程中,測量的空間大X射線途經(jīng)的環(huán)境就比較大,當(dāng)溫度高時,測量值減小,當(dāng)溫度低時,測量值則增加。
第三,在測量過程中,被測物體上,可能會有附著物,也會影響測量的精度。比如,在軋制生產(chǎn)中,測量的鋼板上可能會附著著水、油或者氧化物,這都會對X射線測厚儀的測量值造成影響,出現(xiàn)誤差。另外,被測量的物體,可能會上下跳動,偏離測量時的位置,這種傾斜也會影響測量的精度。測厚儀測厚儀(thicknessgauge)是用來測量材料及物體厚度的儀表。
一六儀器X射線熒光測厚儀 研發(fā)生產(chǎn)廠家 品質(zhì)保證
江蘇一六儀器有限公司研發(fā)的能量色散X熒光光譜儀具有穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng)、先進(jìn)的解譜方法和EFP算法結(jié)合精準(zhǔn)定位及變焦結(jié)構(gòu)設(shè)計,解決了各種大小異形、多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析,歡迎來電咨詢!
不同種類的測厚儀的應(yīng)用
1、薄膜測厚儀:用于測定薄膜、薄片等材料的厚度,測量范圍寬、測量精度高,具有數(shù)據(jù)輸出、任意位置置零、公英制轉(zhuǎn)換、自動斷電等特點。
2、X射線測厚儀利用X射線穿透被測材料時,X射線的強(qiáng)度的變化與材料的厚度相關(guān)的特性,一六儀器從而測定材料的厚度,是一種非接觸式的動態(tài)計量儀器。
應(yīng)用領(lǐng)域:
線路板、引線框架及電子元器件接插件檢測
鍍純金、K金、鉑、銀等各種飾品的膜層成分和厚度分析
手表、精密儀表制造行業(yè)
釹鐵硼磁鐵上的Ni/Cu/Ni/FeNdB
汽車、五金、電子產(chǎn)品等緊固件的表面處理檢測
衛(wèi)浴產(chǎn)品、裝飾把手上的Cr/Ni/Cu/CuZn(ABS)
電鍍液的金屬陽離子檢測
3、涂層測厚儀:用于測量鐵及非鐵金屬基體上涂層的厚度.
X射線熒光分析儀的應(yīng)用
X射線熒光分析儀的不斷完善和發(fā)展所帶動的X 射線熒光分析技術(shù)已被廣泛用于冶金、地質(zhì)、礦物、石油、化工、生物、刑偵、考古等諸多部門和領(lǐng)域。X 射線熒光光譜分析不僅成為對其物質(zhì)的化學(xué)元素、物相、化學(xué)立體結(jié)構(gòu)、物證材料進(jìn)行試測,對產(chǎn)品和材料質(zhì)量進(jìn)行無損檢測,對人體進(jìn)檢和微電路的光刻檢驗等的重要分析手段,也是材料科學(xué)、生命科學(xué)、環(huán)境科學(xué)等普遍采用的一種快速、準(zhǔn)確而又經(jīng)濟(jì)的多元素分析方法。同時,X 射線熒光光譜儀也是野外現(xiàn)場分析和過程控制分析等方面shou xuan器之一。影響涂層測厚儀精準(zhǔn)度的因素有哪些影響涂層測厚儀精準(zhǔn)度的因素有哪些。