光譜膜厚儀性價比出眾

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發(fā)布時間：2020-08-20 07:44

一六儀器專業(yè)測厚儀多道脈沖分析采集,先進EFP算法 X射線熒光鍍層測厚儀

應(yīng)用于電子元器件,LED和照明,家用電器,通訊,汽車電子領(lǐng)域.EFP算法結(jié)合精準定位決了各種大小異形多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題

定位方式：

1、移動平臺：

A、手動（普通和帶精密滑軌移動）：裝配設(shè)計不同精準移位從0.5mm-0.005mm不等，移動的靈動性差距也很大。

B、電動（自動）：裝配設(shè)計不同精準移位從0.2mm-0.002mm不等

但同樣的手動或者自動，其定位精準也相差很多。

2、高度定位：

A、手動變焦和無變焦

B、激光對焦和CCD識別對焦

江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的高新技術(shù)企業(yè)。

先進的技術(shù)，專業(yè)的團隊，嚴格的企業(yè)管理是公司得以不斷發(fā)展壯大、產(chǎn)品能夠贏得客戶信賴的根本所在。

一六儀器、一liu品質(zhì)!各種涂鍍層、膜層的檢測難題歡迎咨詢聯(lián)系！

二．磁感應(yīng)測量原理鍍層厚度分析儀

采用磁感應(yīng)原理時，利用從測頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測定覆層厚度。也可以測定與之對應(yīng)的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。覆層越厚，則磁阻越大，磁通越小。利用磁感應(yīng)原理的測厚儀，原則上可以有導(dǎo)磁基體上的非導(dǎo)磁覆層厚度。一般要求基材導(dǎo)磁率在500以上。如果覆層材料也有磁性，則要求與基材的導(dǎo)磁率之差足夠大（如鋼上鍍鎳）。當軟芯上繞著線圈的測頭放在被測樣本上時，儀器自動輸出測試電流或測試信號。早期的產(chǎn)品采用指針式表頭，測量感應(yīng)電動勢的大小，儀器將該信號放大后來指示覆層厚度。近年來的電路設(shè)計引入穩(wěn)頻、鎖相、溫度補償?shù)鹊匦录夹g(shù)，利用磁阻來調(diào)制測量信號。還采用專利設(shè)計的集成電路，引入微機，使測量精度和重現(xiàn)性有了大幅度的提高（幾乎達一個數(shù)量級）?，F(xiàn)代的磁感應(yīng)測厚儀，分辨率達到0.1um，允許誤差達1%，量程達10mm。X射線熒光光譜分析可以非破壞性同時完成組分和厚度測試，厚度的測量范圍視材料和元素而定，通常在1nm-50um之間。磁性原理測厚儀可應(yīng)用來測量鋼鐵表面的油漆層，瓷、搪瓷防護層，塑料、橡膠覆層，包括鎳鉻在內(nèi)的各種有色金屬電鍍層，以及化工石油待業(yè)的各種防腐涂層。

能量色散X射線熒光光譜儀廣泛應(yīng)用于電子元器件、LED和照明、家用電器、通訊、汽車電子等制造領(lǐng)域。

光譜分析儀可以說是檢測儀器中的“超能先生”，在生物、能源環(huán)境、食品安全等領(lǐng)域都能看到它的身影。以食品檢測為例，常買糧食的朋友應(yīng)該都知道，零食的包裝上有一個營養(yǎng)成分表，用來向消費者展示食品中的熱量、脂肪、蛋白質(zhì)、碳水化合物、鈉等主要營養(yǎng)成分的含量，而這些數(shù)據(jù)的獲得就離不開光譜分析儀。儀器通過對物品材料發(fā)散近紅外線，活躍材料中的分子，通過分子振動反射的光纖，根據(jù)光線的獨特光學(xué)特征識別，由此確認材料的化學(xué)成分組成。通過測定特征X射線的能量，便可以確定相應(yīng)元素的存在，而特征X射線的強弱（或者說X射線光子的多少）則代表該元素的含量或厚度。

　　我們身邊的儀器遠不止此，或許正如動畫中超人也有自己辦不到的事，科學(xué)儀器功能也有限，但相對的，儀器都有各自發(fā)光發(fā)熱的領(lǐng)域。不同的儀器在不同的領(lǐng)域各司其職，守護人類健康，為人類發(fā)展出力。

工業(yè)時代的科技是現(xiàn)代科技，科技是國之利器，國家要強大、人民生活要不斷改善，必須依托于強大科技?？茖W(xué)儀器在我國科技發(fā)展中起到的重要作用是不容忽視的，希望未來能夠看到更多拔萃的科學(xué)儀器為我國科技發(fā)展做出貢獻。