主要是考查絕緣和護(hù)套塑料材料的抗張強度、斷裂伸長率，包括老化前后，還有對于成品軟電纜進(jìn)行的曲撓試驗、彎曲試驗、荷重斷芯試驗、絕緣線芯撕裂試驗、靜態(tài)曲撓試驗等。老化前、后抗張強度、老化前后斷裂伸長率是電纜絕緣和護(hù)套材料基本的指標(biāo)，要求用做電纜絕緣和護(hù)套的材料，既要有足夠的拉伸強度不容易拉斷，又要有一定的柔韌性，老化是指在高溫條件下，絕緣和護(hù)套材料保持其原有性能的能力，老化不應(yīng)嚴(yán)重影響材料的抗張強度和伸長率，這些都將直接影響電纜的使用壽命，若抗張強度和斷裂伸長率不合格，進(jìn)行電纜的施工安裝時就極易出現(xiàn)護(hù)套或絕緣體斷裂，或在光、熱環(huán)境下使用的電纜其護(hù)套和絕緣容易變脆，斷裂，致使帶電導(dǎo)體露出，發(fā)生觸電危險。

對于充油電纜基本上沒有局部發(fā)電；油紙電纜即使有局部放電，通常也是很微弱的如幾個PC，因此這些電纜在出廠試驗中可以不測局部放電。對于擠塑電纜，不但產(chǎn)生局部放電的可能性大，而且局部放電對塑料、橡皮的破壞也比較嚴(yán)重，隨著電壓等級的提高，工作場強的提高，這問題就顯得更加嚴(yán)重，因此對高壓擠塑電纜，在出廠試驗中都要做局部放電測量。局部放電的測量方法很多，可以根據(jù)放電產(chǎn)生的瞬時電荷交換，測量放電脈沖（電測法）；也可根據(jù)放電時產(chǎn)生的超聲波，測量其電壓（聲測法）；還可根據(jù)放電產(chǎn)生的光，測量光的強度（光測法）。對于電纜基本上都是采用電測法。

老化試驗即是在應(yīng)力（機械、電、熱）作用下，能否保持性能穩(wěn)定的穩(wěn)定性試驗。熱老化試驗：簡單的熱老化試驗是考驗試品在熱的作用下發(fā)生老化的特性，把試品放在高于額定工作溫度溫度一定值的環(huán)境中，經(jīng)歷規(guī)定時間后，測量某些敏感性能在老化前后的變化來評定老化特性。也可以用提高溫度加速試品老化，再加上受潮、振動、電場等熱、機、電等應(yīng)力組成一個老化周期，每個老化周期之后，測定某些選定的敏感性能參數(shù)。

CCD 與CMOS 圖像傳感器光電轉(zhuǎn)換的原理相同，他們的差別在于信號的讀出過程不同；由于CCD僅有一個（或少數(shù)幾個）輸出節(jié)點統(tǒng)一讀出，其信號輸出的一致性非常好；而CMOS 芯片中，每個像素都有各自的信號放大器，各自進(jìn)行電荷-電壓的轉(zhuǎn)換，其信號輸出的一致性較差。但是CCD 為了讀出整幅圖像信號，要求輸出放大器的信號帶寬較寬，而在CMOS 芯片中，每個像元中的放大器的帶寬要求較低，大大降低了芯片的功耗，這就是CMOS芯片功耗比CCD 要低的主要原因。盡管降低了功耗，但是數(shù)以百萬的放大器的不一致性卻帶來了更高的固定噪聲，這又是CMOS 相對CCD 的固有劣勢。