從2013年成立至今，廣州景頤光電科技有限公司植根于科研領(lǐng)域，，輻射全國包括、清華大學(xué)、復(fù)旦大學(xué)、上海交通大學(xué)、南京大學(xué)、浙江大學(xué)等眾多高校。

在科研領(lǐng)域，我們已經(jīng)服務(wù)超過一百多個(gè)實(shí)驗(yàn)室，我們希望將積累的光譜儀及光譜測(cè)量技術(shù)性地應(yīng)用于材料、物理、化學(xué)、生物、微納光子學(xué)等學(xué)科領(lǐng)域

目前景頤光電自主研發(fā)生產(chǎn)的微型光纖光譜儀完全可以與國際前沿技術(shù)相抗衡并實(shí)現(xiàn)完全國產(chǎn)化，為民族事業(yè)的進(jìn)步貢獻(xiàn)出綿薄之力！成功來源于自信和努力，但我們懈怠，不斷開發(fā)、探索和是景頤光電永遠(yuǎn)的追求。 以技術(shù)服務(wù)和專業(yè)技術(shù)口碑，打造國際國內(nèi)光譜儀生產(chǎn)民族企業(yè)！

有漫射板時(shí)，照明更均勻，亮度有所下降。無漫射板時(shí)，可以看到較明顯的燈珠成像，而有漫射板時(shí)則反射面表面的比較均勻。如果選擇高透光低磨砂的漫射板，燈珠顆粒感有所下降；而使用低透光高磨砂漫射板，燈珠顆粒感更低，

所有材料在200 - 2500 nm的波長(zhǎng)范圍內(nèi)的光學(xué)平面度達(dá) /- 4%，該值在光譜的適光范圍內(nèi)為 /- 1%。標(biāo)準(zhǔn)漫反射參考白板具有高朗伯特性，其中反射材料是在250 -2500 nm的波長(zhǎng)范圍內(nèi)常用的朗伯反射體。

漫反射板

直接利用星載儀器的工作模式測(cè)量星上漫反射板雙向反射分布函數(shù)，該方法類似 OMI 漫反射板 BRDF 測(cè)量方法，通過星載儀器不同的工作模式得出星上漫反射板 BRDF 值。該方法克服了前兩種方法的所有缺點(diǎn)，可直接模擬在軌運(yùn)行期間星上漫反射板的工作狀態(tài)，不需要另外搭建 BRDF 測(cè)試裝置，數(shù)據(jù)處理方法用比值的方法消除了儀器自身的誤差。

由于星上漫反射板 BRDF 測(cè)試是漫反射鋁板的 BRDF 特性，因此若保證光源出光口到標(biāo)準(zhǔn)漫反射板的距離和到星上漫反射板的距離相同，且標(biāo)準(zhǔn)漫反射板已知BRDF，則無需知曉入射光源的輻照度即可測(cè)量。

在星上輻射定標(biāo)方面，采用太陽 漫反射板定標(biāo)和星上定標(biāo)燈兩種方法進(jìn)行交叉比對(duì)，通過將漫反射體置于光學(xué)系統(tǒng)入口前，兩種方法均實(shí)現(xiàn)儀器的全孔徑標(biāo)定，計(jì)算的相對(duì)輻射定標(biāo)系數(shù)可相互佐證。在標(biāo)準(zhǔn)的確定上，星上定標(biāo)燈定標(biāo)法加入了光源環(huán)節(jié)，且其

標(biāo)準(zhǔn)由地面溯源置星上，因此以星上定標(biāo)燈定標(biāo)系數(shù)作為輻射定標(biāo)的參考標(biāo)準(zhǔn)，用于輔助判斷太陽 漫反射板輻射定標(biāo)計(jì)算的準(zhǔn)確性。星上定標(biāo)分系統(tǒng)配置包括燈源組件、探測(cè)器組件和前置漫射板，其中前置漫射板的衰減特性由兩組探測(cè)器分別在太陽

漫射板定標(biāo)和星上定標(biāo)燈 漫射板定標(biāo)方法中進(jìn)行監(jiān)測(cè)，由于太陽作為輻射光源的穩(wěn)定性，漫反射板在太陽 漫反射板定標(biāo)實(shí)施中的監(jiān)測(cè)數(shù)值作為反射板定標(biāo)衰減預(yù)測(cè)的主要基準(zhǔn)，另一組監(jiān)測(cè)數(shù)據(jù)則作為參考基準(zhǔn)。定標(biāo)燈的強(qiáng)度穩(wěn)定性則通過兩只燈交替開啟進(jìn)行比對(duì)監(jiān)視。

漫反射標(biāo)準(zhǔn)板套裝的反射率可由客戶根據(jù)自身需求定制，一套有八塊或者四塊組成，尺寸通常有直徑38mm黑色外殼和直徑27mm藍(lán)色外殼(圖片的尺寸為38mm黑色外殼），該產(chǎn)品在較廣范圍的光照條件下能保持恒定對(duì)比度，故完全適合要求長(zhǎng)期暴露在嚴(yán)苛環(huán)境條件下的實(shí)驗(yàn)室及野外應(yīng)用。材料具有的高穩(wěn)定性可以獲得可重復(fù)的準(zhǔn)確數(shù)據(jù)。該標(biāo)準(zhǔn)板能夠配合光譜儀和光源組合成一個(gè)漫反射測(cè)試系統(tǒng)，適合于測(cè)量各種樣品的反射率，例如硅片、陶瓷、毛面玻璃、塑料等。