手持光譜儀帶你了解元素的特征信息

射線熒光的能量或波長是特征性的,與元素有一一對應的關系。由Moseley定律可知，只要測出熒光X射線的波長,就可以知道元素的種類,這就是熒光X射線定性分析的基礎。此外,熒光X射線的強度與相應元素的含量有一定的關系,據此,可以進行元素定量分析。X射線探測器將樣品元素的X射線的特征譜線的光信號轉換成易于測量的電信號來得到待測元素的特征信息。

手持式光譜儀應用——青銅及黃銅藝術品修復及檢測

由于金屬可以被不斷熔融，所有僅僅依靠元素組成信息來判定某個藝術品的起源地并不現(xiàn)實。然而，元素組成上的差異往往和某個特定時期的材料以及出自某個藝術家的作品相關。獲取這些信息，古品保護工作者可以很容易地區(qū)分某個雕塑或某個藝術品是否是真品還是模仿品。結合微量分析，元素分析往往可深入了解內部結構，在諸如鑄造，焊接及藝術品修復工作中具有重要意義。

手持式光譜儀在鍍層測厚的應用

(1)對于光亮性電鍍，鍍層過薄則陰極電流密度小，故光亮整體性會差，影響整體外觀。

(2)合金電沉積時，不同工件鍍層厚度不同會導致各個工件合金組分不相同，或外觀不均(如仿金鍍)，又或抗蝕性不一致(如鋅鎳合金)。

(2)不同厚度鍍層的物理、機械性能(如脆性、內應力等)不一樣。若鍍后還要作沖壓成型等機加工處理，鍍層過厚的話往往機加工性能不良(起皮、開裂、粉狀脫落等)。

無論從防蝕性，還是外觀、機加工性能等方面講，鍍層厚度的規(guī)范性都不可忽視,所以對金屬表面鍍層厚度的把控也是至關重要。