γ計(jì)數(shù)器介紹

CAPRAC-t的設(shè)計(jì)和制造一直都極其可靠，且可以選擇Curie或Becquerel作為單位。該設(shè)備擁有自動(dòng)本底扣除和自我診斷程序，可使用較佳的信噪比完成系統(tǒng)測(cè)試。儀器包括鉛屏蔽層（1.3厘米厚）還有可選的輔助屏蔽。

?8英寸彩色SVGA觸摸顯示屏

?256通道MCA（配有詳細(xì)的光譜用于鑒定分析）

?NaI井型晶體探測(cè)器

?自動(dòng)能量校準(zhǔn)、穩(wěn)定性檢查和本底扣除

?井型計(jì)數(shù)器自動(dòng)QC（包括chi-square和MD

?手動(dòng)和自動(dòng)ROI

?為擦拭測(cè)試設(shè)定用戶可定義的協(xié)議

?通過(guò)可選的打印機(jī)打印出所有數(shù)據(jù)，以作為長(zhǎng)性記錄

?光譜顯示的直接讀數(shù)的單位為dpm、Curies和Bequerels等

?符合NRC擦拭測(cè)試要求

?USB和RS232連接端口（用于連接PC和打印機(jī)）

?與核醫(yī)學(xué)信息管理系統(tǒng)兼容（通過(guò)USB）

?實(shí)驗(yàn)室測(cè)試包括吸收實(shí)驗(yàn)、血漿和紅細(xì)胞體積

內(nèi)置數(shù)據(jù)庫(kù)（用于測(cè)試和擦拭結(jié)果以及QC）

γ計(jì)數(shù)器的原理

γ計(jì)數(shù)器，是一種用于探測(cè)電離輻射的粒子探測(cè)器，通常用于探測(cè)α粒子和β粒子，也有些型號(hào)蓋革計(jì)數(shù)器可以探測(cè)γ射線及X射線。

γ計(jì)數(shù)器是根據(jù)射線對(duì)氣體的電離性質(zhì)設(shè)計(jì)成的。其探測(cè)器（稱“蓋革管”）的通常結(jié)構(gòu)是在一根兩端用絕緣物質(zhì)密閉的金屬管內(nèi)充入稀薄氣體（通常是摻加了鹵素的稀有氣體，如氦等），在沿管的軸線上安裝有一根金屬絲電極，并在金屬管壁和金屬絲電極之間加上略低于管內(nèi)氣體擊穿電壓的電壓。

γ計(jì)數(shù)器的性能

CAPRAC-t型擦拭測(cè)試計(jì)數(shù)儀/井型NaI咖瑪計(jì)數(shù)儀性能：

1、可打印測(cè)試報(bào)告和光子能量直方圖；

2、計(jì)算通道含有511Kev探測(cè)功能；

3、通過(guò)γ能譜鑒別同位素；

4、為不同區(qū)域（熱實(shí)驗(yàn)室、病房、等）接收和儲(chǔ)存單個(gè)的觸發(fā)水平；

5、增加的觸發(fā)水平計(jì)數(shù)用紅色墨打印。

6、6秒內(nèi)進(jìn)行擦拭測(cè)試。

以上就是為大家介紹的全部?jī)?nèi)容，希望對(duì)大家有所幫助。如果您想要了解更多γ計(jì)數(shù)器的知識(shí)，歡迎撥打網(wǎng)站上的熱線聯(lián)系我們。

γ計(jì)數(shù)器的優(yōu)勢(shì)

與其他井型計(jì)數(shù)器相比，CAPRAC-t 擁有更快的速度、更高的精度和更齊全的內(nèi)置功能。該計(jì)數(shù)器可以在6秒鐘內(nèi)完成—次擦拭測(cè)試(1 nci)，而檢測(cè)極低活度的精度甚至與NaI 并型探測(cè)器相當(dāng)。

CAPRAC-t的設(shè)計(jì)和制造一直都極其可靠，且可以選擇Curie或 Becquerel作為單位。該設(shè)備擁有自動(dòng)背景差分和自我診斷程序，可使用*的信噪比完成系統(tǒng)測(cè)試。這包括鉛制外屏蔽層（1.3厘米厚）與可選的輔助屏蔽層。