IC測試過程IC測試一般它分為兩大部分：前道工序和后道工序。前道工序將粗糙的硅礦石轉變成高純度的單晶硅。在Wafer上制造各種IC元件。測試Wafer上的IC芯片。后道工序對Wafer（晶圓）劃片（進行切割）對IC芯片進行封裝和測試。設計公司主要目標是根據市場需求來進行芯片研發(fā)，在整個設計過程中，需要一直考慮測試相關的問題。

表面貼裝型PGA在封裝的底面有陳列狀的引腳，其長度從1.5mm到2.0mm。貼裝采用與印刷基板碰焊的方法，因而也稱為碰焊PGA。因為引腳中心距只有1.27mm，比插裝型PGA小一半，所以封裝本體可制作小一些，而引腳數(shù)比插裝型多(250～52，是大規(guī)模邏輯LSI用的封裝形式。封裝的基材有多層陶瓷基板和玻璃環(huán)氧樹脂印刷基數(shù)，以多層陶瓷基材制作的封裝已經實用化。

收縮型雙列直插式封裝SKDIP。形狀與DIP相同，但引腳中心距為1。778mm小于DIP(2。54mm)，引腳數(shù)一般不超過100，材料有陶瓷和塑料兩種。引腳矩陣封裝PGA它是在DIP的基礎上，為適應高速度、多引腳化(提高組裝密度)而出現(xiàn)的。此封裝其引腳不是單排或雙排，而是在整個平面呈矩陣排布，在芯片的內外有多個方陣形的插針，每個方陣形插針沿芯片的四周間隔一定距離排列，與DIP相比，在不增加引腳間距的情況下，可以按近似平方的關系提高引腳數(shù)。

隨著行業(yè)傾向于使用小芯片構建模塊的異構設計范例，平臺級互連變得非常重要。BEoL區(qū)的S1應力分量(MPa)-獨立配置一旦組裝到主板上后，應力區(qū)域特性接近在標準倒裝片配置上觀察到的應力區(qū)域。在外層焊球區(qū)域觀察到應力值，因為外層焊球到中性點(DNP)(即封裝中心)的距離遠。焊球下面的應力分布受焊球至封裝中心的相對位置的影響。