在線3D AOI VS7000 高度截面定位技術(shù)。通過(guò)高度截面定位技術(shù)，避免絲印、PCB 板面及元件來(lái)料顏色變化等干擾，可有效解決定位問(wèn)題。 ● 智能平整性檢測(cè)技術(shù)平整性檢測(cè)與高度檢測(cè)的結(jié)合，可將來(lái)料高度偏差所引起的誤報(bào)完全去除。

為客戶提供專業(yè)、及時(shí)的技術(shù)服務(wù)。不幸的是，這些選擇在日后對(duì)AOI或AXI檢查過(guò)程中造成的影響往往被忽圖2略了。憑著優(yōu)的設(shè)備性能、完善的售后服務(wù)，在智能制造、工業(yè)4.0的大潮中，明銳人將秉持“誠(chéng)信為本、服務(wù)客戶、精益求精”的核心價(jià)值觀，以對(duì)“創(chuàng)新和品質(zhì)”的持續(xù)探求，成為業(yè)界的視覺(jué)檢查方案供應(yīng)商，用智慧與心血為世界重新定義“視覺(jué)與智能”的內(nèi)涵。

AOI產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于智能終端、可穿戴設(shè)備、電信網(wǎng)絡(luò)、航空航天、汽車電子等各個(gè)領(lǐng)域，為客戶提供高檢出、低誤報(bào)、簡(jiǎn)單易用、功能強(qiáng)大的視覺(jué)檢查系統(tǒng)。

AOI 四個(gè)檢測(cè)位置中, 錫膏印刷之后、 ( 片式 ) 器件貼放之后和元件貼放之后的檢測(cè)目的在于預(yù)防問(wèn)題,在這幾個(gè)位置檢測(cè), 能夠阻止缺陷的產(chǎn)生; 在回流焊接之后的檢測(cè), 則目的在于發(fā)現(xiàn)問(wèn)題。而Teradyne的AOI通常有5個(gè)攝像頭,四個(gè)傾斜的和一個(gè)垂直的,由于其AOI在同一位置掃描5次,因此極大的提高了測(cè)試的覆蓋率。預(yù)防問(wèn)題 AOI放置在爐前, 發(fā)現(xiàn)問(wèn)題 AOI 放置在爐后。當(dāng)前來(lái)說(shuō), 爐前的 AOI 比爐后的 AOI 重要, 但爐后的檢查特別是焊點(diǎn)類不良的檢查是 AOI 的檢查的難點(diǎn), Teradyne 的Optima7000 系統(tǒng)就側(cè)重于爐后的檢測(cè)。更多的 AOI 都具有很大的彈性度, 安捷倫的 SJ50 與 SP50 ( 三維) 焊膏檢測(cè)系統(tǒng)使用統(tǒng)一化平臺(tái), 可以互換照明頭。 Omron和 Teradyne 的 AOI 都可以移到其它測(cè)試位置。

AOI為客戶提供專業(yè)、及時(shí)、的技術(shù)服務(wù)。這類方法算法簡(jiǎn)單,容易實(shí)現(xiàn),但是它不容易檢測(cè)線寬、線距違例等瑕疵。憑著的設(shè)備性能、完善的售后服務(wù)，在智能制造、工業(yè)4.0的大潮中，明銳人將秉持“誠(chéng)信為本、服務(wù)客戶、精益求精”的核心價(jià)值觀，以對(duì)“創(chuàng)新和品質(zhì)”的持續(xù)探求，成為業(yè)界的視覺(jué)檢查方案供應(yīng)商，用智慧與心血為世界重新定義“視覺(jué)與智能”的內(nèi)涵。

波長(zhǎng)光源也就是一般現(xiàn)代工業(yè)AOI檢測(cè)設(shè)備中的紅綠藍(lán)LED光源。當(dāng)前AOI檢測(cè)系統(tǒng)圖像處理基本上采用的是參考算法,國(guó)外進(jìn)口品牌大多使用圖像匹配、法則判別登多種組合手段。特殊波長(zhǎng)光源一般是指紅外或紫外波長(zhǎng)光源，一些特殊材料在可見(jiàn)光范圍內(nèi)吸收差別不大，灰階變化不明顯時(shí)可以考慮采用特殊波長(zhǎng)光源，比如說(shuō)利用紫外光能量高可以激發(fā)熒光材料的原理，檢測(cè)具有熒光發(fā)光特性物質(zhì)微殘留時(shí)紫外光源就是一種比較有效的手段，因材料成分與紅外光譜有對(duì)應(yīng)關(guān)系的原理，紅外光源對(duì)不具有發(fā)光性質(zhì)的有機(jī)化合物殘留缺陷檢出就有很大的作用，甚至可以實(shí)現(xiàn)成分分析。特殊光源中，利用偏振光與物體相互作用后偏振態(tài)的變化，利用光學(xué)干涉原理的白光干涉（white light interferometry）在特定缺陷檢測(cè)中的得到了應(yīng)用，例如通過(guò)相干光的干涉圖案計(jì)算出對(duì)應(yīng)的相位差和光程差，可以測(cè)量出被測(cè)物體與參考物體之間的差異，且分辨率與精度為可以達(dá)到亞波長(zhǎng)，測(cè)量三維物體形貌與高度也正成為AOI檢測(cè)的新需求。