手持光譜儀的原理

在XRF分析法中，從光發(fā)射管里發(fā)射出來的高能初級射線光子會撞擊樣本元素。這些初級光子含有足夠的能量可以將里層即K層或L層的電子撞擊脫軌。這時，原子變成了不穩(wěn)定的離子。由于電子本能會尋求穩(wěn)定，外層L層或M層的電子會進入彌補內(nèi)層的空間。在這些電子從外層進入內(nèi)層的過程中，它們會釋放出能量，我們稱之為二次X射線光子。而整個過程則稱為螢光輻射。每種元素的二次射線都各有特征。而X射線光子螢光輻射產(chǎn)生的能量是由電子轉(zhuǎn)換過程中內(nèi)層和外層之間的能量差決定的。例如，鐵原子Fe的Kα能量大約是6.4千電子伏。特定元素在一定時間內(nèi)所發(fā)射出來的X射線的數(shù)量或者密度，能夠用來衡量這種元素的數(shù)量。典型的XRF能量分布光譜顯示了不同能量時光子密度的分布情況。

手持式光譜儀和便攜式光譜儀是一回事嗎？

手持式光譜儀和便攜式光譜儀不是同一種光譜儀。便攜式光譜儀分為手持式光譜儀和移動式光譜儀兩種。

前者屬于X射線熒光光譜儀，后者屬于直讀光譜儀。兩者均可鑒別金屬材料的牌號，廣泛應用于石油，化工，電廠，煤氣等行業(yè)的壓力容器，管道閥門安裝以及現(xiàn)場確認材料，也應用于廢料回收，混料檢驗篩選，以及原材料牌號確認，尤其適合于不銹鋼材料的牌號確認以及定量測量元素。但前者不能測量非金屬元素例如C,S,P，后者因為屬于火花直讀光譜，可以另加一個紫外光室，所以可以現(xiàn)場測量非金屬元素C,S,P甚至N元素。

手持式光譜在鍍層測厚的應用

要使電鍍過程具有科技的或工業(yè)的價值，需要對電鍍過程進行控制，也就是要按照一定的工藝流程和工藝要求來進行電鍍，并且還要用到某些輔助設備和管理設備。若工件中鍍層厚度不達標，則會帶來很多壞處：對于陽極性鍍層，鍍層如果過薄可能會經(jīng)不起犧牲腐蝕會先使基體產(chǎn)生銹蝕。而一個制件部分銹蝕后則已不合格。若為保證工件基體不生銹，只能加大鍍層厚度，而鍍層厚度過厚則會導致電鍍成本增大。