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ROHS分析儀檢測(cè)方法
北京京國(guó)藝科技發(fā)展有限公司專(zhuān)業(yè)生產(chǎn)、銷(xiāo)售RoHS分析儀,我們?yōu)槟治鲈摦a(chǎn)品的以下信息。
檢測(cè)方法
能量色散型X熒光光譜分析
重量:50kg
光管:W靶,5-50kV,0–1mA
內(nèi)置5重濾光片
探測(cè)器:美國(guó)原裝進(jìn)口Si-PiN探測(cè)器,5.95 keV Mn的K-alpha譜線(xiàn) < 170 eV FWHM;也可配置美國(guó)原裝進(jìn)口SDD探測(cè)器,5.95 keV Mn的K-alpha譜線(xiàn) < 130 eV FWHM,峰本比更高,數(shù)據(jù)更好,效率更快。ROHS分析儀我公司的產(chǎn)品已被廣泛應(yīng)用于技術(shù)監(jiān)督部門(mén)、進(jìn)出口檢疫及生產(chǎn)制造企業(yè)。
處理器:美國(guó)原裝進(jìn)口第五代數(shù)字處理器。
ROHS分析儀簡(jiǎn)介
分析元素:標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)包包含20種元素
標(biāo)準(zhǔn)元素:Pb, Cr, Hg, Br, Cd, Sb, Cl, P, Ti, Mn, Fe, Ni, Cu, Zn, Bi, Sn, Ag.
數(shù)據(jù)顯示:集中于ppm, 按百分比(%)顯示,光譜和/或峰強(qiáng)度(計(jì)數(shù)率)或用戶(hù)自定義單位,取決于所選的分析模式
檢測(cè)下限:料和焊錫,Pb, Hg: 10ppm; Cr: 40ppm; Cd: 20ppm; Br: 5ppm; As: 9ppm
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RoHS檢測(cè)儀類(lèi)型介紹
GY-MARS/T 5700B型 X熒光光譜儀是GY-MARS/T5700的升級(jí)型,具有很高的性?xún)r(jià)比。可滿(mǎn)足歐盟的RoHS標(biāo)準(zhǔn)、中國(guó)的電子產(chǎn)品污染管理辦法、無(wú)鹵測(cè)試等相關(guān)指令的測(cè)試要求。該產(chǎn)品可應(yīng)用于技監(jiān)局、進(jìn)出口檢疫、電子、塑膠、玩具等眾多行業(yè)。3、IT及通訊儀器:計(jì)算機(jī)、傳真機(jī)、電話(huà)機(jī)、手機(jī)等、電動(dòng)工具。
儀器采用了電制冷硅半導(dǎo)體探測(cè)器,分辨率為149eV。能更好地檢測(cè)被測(cè)物中的各種元素。6mm2的探測(cè)面積,具有很好的點(diǎn)對(duì)點(diǎn)測(cè)量能力,避免交叉干擾等影響測(cè)量結(jié)果的因素。rohs光譜分析儀報(bào)價(jià)rohs光譜分析儀報(bào)價(jià)RoHS指令是歐盟推出的有害物質(zhì)限定的管理辦法,對(duì)應(yīng)我國(guó)頒布的《電子電氣設(shè)備中限制使用某些有害物質(zhì)指令》。配合來(lái)自美國(guó)的第五代I型數(shù)字信號(hào)處理器,分析速度和系統(tǒng)處理能力得到顯著提高,計(jì)數(shù)率可達(dá)200萬(wàn),測(cè)試穩(wěn)定性和準(zhǔn)確性比以往提高了2倍。
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X熒光光譜分析儀優(yōu)點(diǎn)
以下內(nèi)容由北京京國(guó)藝科技發(fā)展有限公司為您提供,今天我們來(lái)分享RoHS分析儀的相關(guān)內(nèi)容,希望對(duì)同行業(yè)的朋友有所幫助!
X熒光光譜分析儀優(yōu)點(diǎn):
a) 分析速度快。測(cè)定用時(shí)與測(cè)定精密度有關(guān),但一般都很短,10~300秒就可以測(cè)完樣品中的全部待測(cè)元素。
b) X射線(xiàn)熒光光譜跟樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無(wú)關(guān),而且跟固體、粉末、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒(méi)有關(guān)系。(氣體密封在容器內(nèi)也可分析)但是在高分辨率的精密測(cè)定中卻可看到有波長(zhǎng)變化等現(xiàn)象。特別是在超軟X射線(xiàn)范圍內(nèi),這種效應(yīng)更為顯著。rohs光譜分析儀報(bào)價(jià)rohs光譜分析儀報(bào)價(jià)能量色散射線(xiàn)熒光光譜儀則采用能量探測(cè)器,通過(guò)測(cè)定由探測(cè)器收集到的電荷量,直接獲得被測(cè)元素發(fā)出的特征射線(xiàn)能量:Q=kE式中,K為入射射線(xiàn)的光子能量。波長(zhǎng)變化用于化學(xué)價(jià)位的測(cè)定 。
c) 非破壞分析。在測(cè)定中不會(huì)引起化學(xué)狀態(tài)的改變,也不會(huì)出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象。同一試樣可反復(fù)多次測(cè)量,結(jié)果重現(xiàn)性好。
d) X射線(xiàn)熒光分析是一種物理分析方法,所以對(duì)在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進(jìn)行分析。
e) 分析精密度高。目前含量測(cè)定已經(jīng)達(dá)到ppm級(jí)別。
f) 制樣簡(jiǎn)單,固體、粉末、液體樣品等都可以進(jìn)行分析。