同位素測厚儀利用物質(zhì)厚度不同對輻射的吸收與散射不同的原理，可以測定薄鋼板、薄銅板、薄鋁板、硅鋼片、合金片等金屬材料及橡膠片，塑料膜，紙張等的厚度。常用的同位素射線有γ射線、β射線等。測厚儀的測試方法主要有：磁性測厚法，測厚法，電解測厚法，渦流測厚法，超聲波測厚法。測量注意事項：⒈在進行測試的時候要注意標準片集體的金屬磁性和表面粗糙度應當與試件相似。⒉測量時側頭與試樣表面保持垂直。

儀器不測量———

①檢查探頭是否連接良好，插到位---------  查看探頭插頭插針情況

②檢查探頭線是否有斷的地方---------  重點檢查探頭接插件處（接頭處可以旋鈕擰開查看）

③探頭頻繁大量使用，傳感器老化或損壞，等

④其它主機線路元件故障--------- 咨詢公司售后服務或返廠檢修

四：測量無數(shù)據(jù)變化————

①探頭是否連接良好探頭是否損壞等

②相關主機線路故障----------咨詢公司售后服務或返廠檢修

鍍層厚度測量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測的重要環(huán)節(jié)，是產(chǎn)品達到優(yōu)等質(zhì)量標準的必要手段。為使產(chǎn)品國際化，我國出口商品和涉外項目中，對鍍層厚度有了明確要求。隨著技術的日益進步，特別是近年來引入微機技術后，采用X射線鍍層測厚儀 向微型、智能、多功能、高精度、實用化的方向進了一步。測量的分辨率已達0.1微米，精度可達到1%，有了大幅度的提高。它適用范圍廣，量程寬、操作簡便且價廉，是工業(yè)和科研使用廣泛的測厚儀器。


g 磁場周圍各種電氣設備所產(chǎn)生的強磁場，會嚴重地干擾磁性法測厚工作。h 附著物質(zhì)本儀器對那些妨礙測頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感，因此，必須清除附著物質(zhì)，以保證儀器測頭和被測試件表面直接接觸。i 測頭壓力測頭置于試件上所施加的壓力大小會影響測量的讀數(shù)，因此，要保持壓力恒定。j 測頭的取向測頭的放置方式對測量有影響。在測量中，應當使測頭與試樣表面保持垂直。