常見EMC測試項目

一、EMI:電磁干擾

（1）RE：輻射發(fā)射

（2）CE：傳導發(fā)射

（3）Harmonics：諧波電流

（4）Flicker：閃爍

二、EMS:電磁敏感度

（1）RS：輻射抗擾度

（2）CS：傳導抗擾度

（3）ESD：靜電抗擾度

（4）EFT/B：電快速瞬變脈沖群

（5）Surge：浪涌抗擾度

（6）PMS：工頻磁場抗擾度

（7）Dips：電壓跌落/短時中斷

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常見EMC測試項目-RE

RE主要是考察設備在正常工作時自身對外界的輻射的干擾強度，測試頻段根據(jù)不同的標準要求不同，在CISPR 11中，主要測試頻段為30～1000MHz，值得注意的是設備進行RE測試時標準要求盡可能滿配置、滿負荷的運行。RE問題是EMC中的難點。主要因為RE設計產(chǎn)品EMC設計的各個環(huán)節(jié)：屏蔽、濾波、接地；

在RE測試中，天線的高度、天線的極化方向以及轉臺的角度都需要不斷改變，以求檢測到設備輻射的大點。

RE測試可以在開闊場和半電波暗室內進行；

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電磁兼容(EMC) 

電磁兼容(EMC) 是對電子產(chǎn)品電磁場方面干擾大小(EMI)和抗干擾能力(EMS) 的綜合評定，是產(chǎn)品質重要的指標之- ,電磁兼容的測量由測試場地和測試儀器組成。

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電磁兼容的發(fā)展

電磁兼容技術的迅速發(fā)展，電和磁無時無刻不在影響著人們的生活及生產(chǎn)，電磁能的廣泛應用，使工業(yè)技術的發(fā)展日新月異。電磁能在為人類創(chuàng)造巨大財富的同時，也帶來一定的危害，被稱為電磁污染，研究電磁污染是環(huán)境保護中的重要分支。以往人們把無線電通訊裝置受到的干擾，稱為電磁干擾，表明裝置受到外部干擾侵入的危害，其實它本身也對外部其他裝置造成危害，即成為干擾源。因此必須同時研究裝置的干擾和被干擾，對裝置內部的組織和裝置之間要注意其相容性。隨著科學技術的發(fā)展，日益廣泛采用的微電子技術和電氣化的逐步實現(xiàn)，形成了復雜的電磁環(huán)境。不斷研究和解決電磁環(huán)境中設備之間以及系統(tǒng)間相互關系的問題，促進了電磁兼容技術的迅速發(fā)展。

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