一六 熒光測厚儀 十年以上研發(fā)團隊 集研發(fā)生產銷售一體

元素分析范圍:氯(CI)- 鈾(U)   厚度分析范圍:各種元素及有機物

一次可同時分析:23層鍍層,24種元素   厚度檢出限:0.005um

江蘇一六儀器        X射線熒光測厚儀工作原理    

     當原子受到X射線光子(原級X射線)或其他微觀粒子的激發(fā)使原子內層電子電離而出現空位，原子內層電子重新配位，較外層的電子躍遷到內層電子空位，并同時出次級X射線光子，此即X射線熒光。開機自動退出自檢、復位開蓋自動退出樣品臺，升起Z軸測試平臺，方便放樣關蓋推進樣品臺，下降Z軸測試平臺并自動完成對焦直接點擊全景或局部景圖像選取測試點點擊軟件界面測試按鈕，自動完成測試并顯示測試結果。較外層電子躍遷到內層電子空位所釋放的能量等于兩電子能級的能量差，因此，X射線熒光的波長對不同元素是特征的，根據元素X射線熒光特征波長對元素做定性分析，根據元素釋放出來的熒光強度，來進行定量分析如元素厚度或含量分析。

   根據色散方式不同，X射線熒光分析儀相應分為X射線熒光光譜儀(波長色散)和X射線熒光能譜儀(能量色散)。如果入射的X射線使某元素的K層電子激發(fā)成光電子后L層電子躍遷到K層，此時就有能量ΔE釋放出來，且ΔE=EK-EL，這個能量是以X射線形式釋放，產生的就是Kα射線，同樣還可以產生Kβ射線，L系射線等。X射線熒光光譜儀主要由激發(fā)、色散、探測、記錄及數據處理等單元組成。激發(fā)單元的作用是產生初級X射線。它由高壓發(fā)生器和X光管組成。后者功率較大，用水和油同時冷卻。色散單元的作用是分出想要波長的X射線。它由樣品室、狹縫、測角儀、分析晶體等部分組成。通過測角器以1∶2速度轉動分析晶體和探測器，可在不同的布拉格角位置上測得不同波長的X射線而作元素的定性分析。探測器的作用是將X射線光子能量轉化為電能，常用的有蓋格計數管、正比計數管、閃爍計數管、半導體探測器等。記錄單元由放大器、脈沖幅度分析器、顯示部分組成。通過定標器的脈沖分析信號可以直接輸入計算機，進行聯機處理而得到被測元素的含量。

江蘇一六儀器   X熒光光譜測厚儀 優(yōu)點    

X射線熒光能譜儀沒有復雜的分光系統，結構簡單。X射線激發(fā)源可用X射線發(fā)生器，也可用性同位素。能量色散用脈沖幅度分析器。探測器和記錄等與X射線熒光光譜儀相同。

    X射線熒光光譜儀和X射線熒光能譜儀各有優(yōu)缺點。如果合金鍍層成分穩(wěn)定，選擇合適的對比分析樣品，就可以準確的分析出合金鍍層的厚度。前者分辨率高，對輕、重元素測定的適應性廣。對高低含量的元素測定靈敏度均能滿足要求。后者的X射線探測的幾何效率可提高2～3數量級，靈敏度高?？梢詫δ芰糠秶軐挼腦射線同時進行能量分辨(定性分析)和定量測定。對于能量小于2萬電子伏特左右的能譜的分辨率差。

     江蘇一六儀器一家專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產、銷售的高新技術企業(yè)。對于樣品可進行連續(xù)多點測量，適合分析鍍層的厚度分布情況，并可以對樣品的復雜面進行測量。我們專業(yè)的研發(fā)團隊具備十年以上的從業(yè)經驗，經與海內外多名通力合作，研究開發(fā)出一系列能量色散X熒光光譜儀。穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統、先進的解譜方法和EFP算法結合精準定位及變焦結構設計，解決了各種大小異形、多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題。

   x射線熒光膜厚測厚儀還應用于五金電鍍厚度檢測，首飾電鍍厚度檢測，電子連接件表層厚度檢測，電鍍液含量分析。EFP先進算法軟件：多層多元素，甚至有同種元素在不同層也難不倒EFP算法軟件。電力行業(yè)高壓開關柜用銅鍍銀件厚度檢測，銅鍍錫件厚度檢測，航空材料金屬鍍層厚度檢測。銅箔鍍層厚度檢測，光伏行業(yè)焊帶銅鍍錫鉛合金厚度檢測，鐵鍍鉻 鍍鋅 鍍鎳厚度檢測等。