一六 熒光測(cè)厚儀 十年以上研發(fā)團(tuán)隊(duì) 集研發(fā)生產(chǎn)銷(xiāo)售一體

元素分析范圍:氯(CI)- 鈾(U)   厚度分析范圍:各種元素及有機(jī)物

一次可同時(shí)分析:23層鍍層,24種元素 厚度檢出限:0.005um

X熒光測(cè)厚儀相關(guān)注意事項(xiàng)：

　　儀器供電電壓必須與儀器品牌上的電壓一致.儀器三線插頭必須連接到已接地的插座上。

　　本儀器為精密儀器,配備的穩(wěn)壓電源.計(jì)算機(jī)應(yīng)配備不間斷電源(UPS)。

　　儀器應(yīng)特別注意與存在電磁的場(chǎng)合隔離開(kāi)來(lái)。

　　為避免短路,嚴(yán)禁儀器與液體直接接觸,如果液體進(jìn)入儀器,請(qǐng)立即關(guān)閉儀器。

　　本儀器不能用于酸性環(huán)境和場(chǎng)合。

　　不要弄臟和刮擦調(diào)校標(biāo)準(zhǔn)片,否則會(huì)造成讀數(shù)錯(cuò)誤。

　　不要用任何機(jī)械或化學(xué)的方法清除調(diào)校片上的臟物,可以用不起毛的布輕輕擦拭。

一六儀器 專(zhuān)業(yè)測(cè)厚儀 多道脈沖分析采集,先進(jìn)EFP算法  X射線熒光鍍層測(cè)厚儀

應(yīng)用于電子元器件,LED和照明,家用電器,通訊,汽車(chē)電子領(lǐng)域.EFP算法結(jié)合精準(zhǔn)定位決了各種大小異形多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題

鍍層厚度分析儀的測(cè)量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測(cè)量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測(cè)量法及渦流測(cè)量法等等。這些方法中前五種是有損檢測(cè)，測(cè)量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗(yàn)。

X射線和β射線法是無(wú)接觸無(wú)損測(cè)量，測(cè)量范圍較小，X射線法可測(cè)極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號(hào)大于3的鍍層測(cè)量。電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆

層測(cè)厚時(shí)采用。

     江蘇一六儀器有限公司是一家專(zhuān)注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷(xiāo)售的高新技術(shù)企業(yè)。公司位于上海和蘇州中間的昆山市城北高新區(qū)。我們專(zhuān)業(yè)的研發(fā)團(tuán)隊(duì)具備十年以上的從業(yè)經(jīng)驗(yàn)，經(jīng)與海內(nèi)外多名專(zhuān)家通力合作，研究開(kāi)發(fā)出一系列能量色散X熒光光譜儀

     X射線熒光光譜測(cè)厚儀原理

    一個(gè)內(nèi)層電子而出現(xiàn)一個(gè)空穴，使整個(gè)原子體系處于不穩(wěn)定的激發(fā)態(tài)，激發(fā)態(tài)原子壽命約為 (10)-12-(10)-14s，然后自發(fā)地由能量高的狀態(tài)躍遷到能量低的狀態(tài)。這個(gè)過(guò)程稱為馳豫過(guò)程。放置樣品：打開(kāi)測(cè)試腔，將樣品需要測(cè)試的一面大致朝向測(cè)試窗，邊觀察軟件測(cè)試畫(huà)面邊通過(guò)移動(dòng)平臺(tái)滑軌微調(diào)測(cè)試位置進(jìn)而達(dá)到測(cè)試要求位置11。馳豫過(guò)程既可以是非輻射躍遷，也可以是輻射躍遷。當(dāng)較外層的電子躍遷到空穴時(shí)，所釋放的能量隨即在原子內(nèi)部被吸收而逐出較外層的另一個(gè)次級(jí)光電子，此稱為俄歇效應(yīng)，亦稱次級(jí)光電效應(yīng)或無(wú)輻射效應(yīng)，所逐出的次級(jí)光電子稱為俄歇電子。

     它的能量是特征的，與入射輻射的能量無(wú)關(guān)。當(dāng)較外層的電子躍入內(nèi)層空穴所釋放的能量不在原子內(nèi)被吸收，而是以輻射形式放出，便產(chǎn)生X射線熒光，其能量等于兩能級(jí)之間的能量差。X射線和β射線法是無(wú)接觸無(wú)損測(cè)量，測(cè)量范圍較小，X射線法可測(cè)極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。因此，X射線熒光的能量或波長(zhǎng)是特征性的，與元素有一一對(duì)應(yīng)的關(guān)系。 K層電子被逐出后,其空穴可以被外層中 任一電子所填充，從而可產(chǎn)生一系列的譜線，稱為K系譜線:由L層躍遷到K層輻射的X射線叫Kα射線,由M層躍遷到K層輻射的X射線叫Kβ射線……。

選擇Elite（一六儀器）X射線熒光鍍層測(cè)厚儀理由：

   根據(jù)IPC規(guī)程，必須使用整塊的標(biāo)準(zhǔn)片來(lái)校正儀器，對(duì)于多鍍層的測(cè)量，目前大多數(shù)客戶購(gòu)買(mǎi)的測(cè)厚儀采用的是多種箔片疊加測(cè)量校正，比如測(cè)量PCB板上的Au/Pd/Ni/Cu,因?yàn)闇y(cè)量點(diǎn)很小，測(cè)量距離的變化對(duì)測(cè)量結(jié)果有較大影響，如果使用Au，Pd，Ni三種箔片疊加校正，校正的時(shí)候箔片之間是有空氣，并且Pb元素與空氣的頻譜重疊，以上會(huì)對(duì)測(cè)量結(jié)果產(chǎn)生較大影響，Elite（一六儀器）測(cè)厚儀有電鍍好的整塊的Au/Pd/Ni/base標(biāo)準(zhǔn)片，不需要幾種箔片疊加校正，可以確保鍍層測(cè)量的準(zhǔn)確性。005um性能優(yōu)勢(shì)精密的三維移動(dòng)平臺(tái)卓越的樣品觀測(cè)系統(tǒng)先進(jìn)的圖像識(shí)別輕松實(shí)現(xiàn)深槽樣品的檢測(cè)四種微孔聚焦準(zhǔn)直器，自動(dòng)切換雙重保護(hù)措施，實(shí)現(xiàn)無(wú)縫防撞采用大面積高分辨率探測(cè)器，有效降低檢出限，提高測(cè)試精度全自動(dòng)智能控制方式，一鍵式操作。

2、采用微聚焦X射線管，油槽式設(shè)計(jì)，工作時(shí)采用油冷，長(zhǎng)期使用時(shí)壽命更長(zhǎng)。微聚焦X射線管配合比例接收能實(shí)現(xiàn)高計(jì)數(shù)率，可以進(jìn)行測(cè)量。

3、Elite（一六儀器）WinFTM專(zhuān)用軟件，具有強(qiáng)大且界面友好、中英文切換，多可同時(shí)測(cè)量23層鍍層，24種元素，測(cè)量數(shù)據(jù)可直接以WORD格式或EXCEL格式輸出、打印、保存。探測(cè)器的作用是將X射線光子能量轉(zhuǎn)化為電能，常用的有蓋格計(jì)數(shù)管、正比計(jì)數(shù)管、閃爍計(jì)數(shù)管、半導(dǎo)體探測(cè)器等。采用基本參數(shù)法（FP），有內(nèi)置頻譜庫(kù)，無(wú)論是鍍層系統(tǒng)還是固體和液體樣品，都能在沒(méi)有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下進(jìn)行準(zhǔn)確的分析和測(cè)量。

4、 Elite（一六儀器）針對(duì)PCB（印制電路板）線路板上的鍍層厚度及分析而設(shè)計(jì)的X射線熒光測(cè)厚儀（XDLM-PCB200/PCB210系列）具有以下特點(diǎn)：1）工作臺(tái)有手動(dòng)和程序控制供客戶選擇，2）采用開(kāi)槽式設(shè)計(jì)和配置加長(zhǎng)型樣品平臺(tái)，用于檢測(cè)大尺寸的線路板。通過(guò)電鍍，可以再機(jī)械制品上獲得裝飾保護(hù)性和各種功能性的表面層，還可以修復(fù)磨損和加工失誤的工件，鍍層厚度測(cè)量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測(cè)的重要一環(huán)，是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的必備手段。