一六儀器-------鍍層測厚儀|光譜測厚儀|X-ray測厚儀|X熒光測厚儀|凃?qū)幽ず駜x

X射線測厚儀測量精度的影響因素有哪些

首先,是X射線的高壓控制箱會(huì)對(duì)測量的精度造成一定的影響。X射線測厚儀的測量原理就是通過施加高壓電源出X射線,通過X射線的穿透物體時(shí)的衰減量來測量被測物體的厚度。但是高壓控制箱的安裝位置會(huì)對(duì)測厚儀的準(zhǔn)確度造成一定的影響。安裝的位置不當(dāng)就會(huì)使測量的精度不準(zhǔn)確波動(dòng)比較明顯。另外,X射線本身的衰減也會(huì)影響測厚儀的測量精度。鍍層測厚儀|光譜測厚儀|X-ray測厚儀|X熒光測厚儀|凃?qū)幽ず駜x---一六儀器歡迎咨詢聯(lián)系X射線熒光是由原級(jí)X射線照射待測樣品時(shí)所產(chǎn)生的次級(jí)X射線，入射的X射線具有相對(duì)較大的能量，使其可以轟擊出位于元素原子內(nèi)層中的電子。

一六儀器---鍍層測厚儀|光譜測厚儀|X-ray測厚儀|X熒光測厚儀|凃?qū)幽ず駜x

儀器規(guī)格：

 外形尺寸 ：550 mm x 480mm x 470 mm （長x寬x高）

 樣品倉尺寸 ：500mm×360 mm ×215mm （長x寬x高）

 儀器重量 ：55kg

 供電電源 ：交流220±5V

 da功率 ：330W

 環(huán)境溫度：15℃-30℃

 環(huán)境相對(duì)濕度：<70%

第四,在生產(chǎn)過程中,補(bǔ)償值也會(huì)對(duì)X射線測厚儀的測量精度造成影響。我們利用測厚儀測量是,會(huì)事先給測厚儀輸入一個(gè)補(bǔ)償值,讓測量值與實(shí)際值相等。在這個(gè)過程中,操作者首先對(duì)板材進(jìn)行測量,但是操作者使用量尺的方式不同,就會(huì)造成補(bǔ)償值的大小不等,會(huì)形成人為的誤差。只有在進(jìn)行測量時(shí),操作者認(rèn)真操作,減少補(bǔ)償值得測算誤差,使補(bǔ)償值接近真實(shí)值,提高X射線測厚儀的測量精度。如何安裝X射線測厚儀2)C型架按運(yùn)行軌跡定位，并作感觀質(zhì)量檢查。 

X射線熒光的基本原理

一六儀器X射線熒光測厚儀 研發(fā)生產(chǎn)廠家 品質(zhì)保證

江蘇一六儀器有限公司研發(fā)的能量色散X熒光光譜儀具有穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng)、先進(jìn)的解譜方法和EFP算法結(jié)合精準(zhǔn)定位及變焦結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，解決了各種大小異形、多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析，歡迎來電咨詢！

當(dāng)X射線激發(fā)出試樣特征X射線時(shí)，其入射電磁輻射能量必須大于某一個(gè)值才能引起其內(nèi)層電子激發(fā)態(tài)從而形成空穴并引起電子的躍遷，這個(gè)值是吸收限，相當(dāng)于內(nèi)層電子的功函數(shù)。如果入射電磁輻射的能量低于吸收限則在任何情況下都不能激發(fā)原子內(nèi)層電子并產(chǎn)生特征X射線。第四,在生產(chǎn)過程中,補(bǔ)償值也會(huì)對(duì)X射線測厚儀的測量精度造成影響。

X射線的激發(fā)

   如果要得到某元素的特征X射線，需要對(duì)元素原子內(nèi)層電子進(jìn)行激發(fā)，使得內(nèi)層電子獲得一定能量，能夠脫離原子核的束縛，從而在內(nèi)層軌道形成電子空穴，當(dāng)較高能級(jí)電子填補(bǔ)這一空穴時(shí)，才會(huì)發(fā)射一定能量的特征X射線，這個(gè)過程就是X射線的激發(fā)。