航天技術的不斷發(fā)展， 泄漏問題已經(jīng)成為航天產(chǎn)品設計制造中必須考慮的關鍵因素，越來越多的收到各方關注，相關電子元器件漏率檢測已經(jīng)引起科研人員的高度重視，目前應用檢漏技術的主要是為密封繼電器、集成電路 外殼。.利用氫質譜檢漏儀可以方便地對密封繼電器作漏率測定。針對不同的產(chǎn)品，采用合適的檢漏方法。目前密封繼電器的漏率檢測主要是GJB360A-96的112實驗程序。

氦質譜檢漏主要領域：原子能工業(yè)——氣體擴散處理系統(tǒng)；高能物理研究院——及其配件；氦質譜檢漏設備因氦比空氣輕，因此要注意檢漏的順序，檢查順序應依照由下而上， 由近而遠的順序進行。氦質譜檢漏方法 以其高靈敏度和準確性而通常應用于整體防漏等級較高的壓力容器上。 氦檢方法基本上可分為用氦氣內(nèi)部加壓法和 設備內(nèi)部抽真空外部施氦這兩種。

為了避免事故的發(fā)生，化工廠商在投建廠房時就應該對化學管道和設備做氣密檢漏并且后期生產(chǎn)中也需要定期檢漏。氦質譜檢漏設備檢漏過程中，如發(fā)現(xiàn)大量氦氣進質譜檢漏儀，應立即移去吸，防止因儀器長時間清除不掉氦影響而延誤測試。對檢漏方法的要求：檢漏靈敏度高，可以檢出很小的漏孔；反應時間短，可以提高工作效率；根據(jù)具體被檢對象，所用方法簡便易行，經(jīng)濟實用。