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(6)定期更換存儲用電池一般數(shù)控系統(tǒng)內(nèi)對CMOSRAM存儲器件設有可充電池維護電路,以保證系統(tǒng)不同電器件能保持其存儲器的內(nèi)容。在一般情況下,即便尚未失效,也應每年更換一次,以確保系統(tǒng)正常工作。電池的更換應在數(shù)控系統(tǒng)供電狀態(tài)下進行,以防更換時RAM內(nèi)信息丟失。任選一種進給量,在XZ軸全部行程上,連續(xù)做工作進給和快速進給試驗。
?。?)備用電路板的維護備用的印制電路板長期不用時,應定期裝到數(shù)控系統(tǒng)中通電運行一段時間,以防損壞?! ?
空動轉(zhuǎn)試驗
a. 主動動機構運轉(zhuǎn)試驗,在更高轉(zhuǎn)速段不得少于1小時,主軸軸承的溫度值不超過70℃ ,溫升值不超過40℃;
b. 連續(xù)空運轉(zhuǎn)試驗,其運動時間不少于8小時,每個循環(huán)時間不大于15分鐘。每個循環(huán)終了停車,并模擬松卡工件動作,停車不超過一分鐘,再繼續(xù)運轉(zhuǎn)。
機床開箱驗收,功能試驗,空運轉(zhuǎn)試驗、負荷試驗完成后,加工出合格產(chǎn)品,即可辦理驗收移交的手續(xù)。如有問題,制造廠應負責解決。