一六儀器  X-RAY測厚儀研發(fā)生產(chǎn)廠家,歡迎來電咨詢!

測厚儀,多薄多復(fù)雜組合的鍍層分析,一六儀器研發(fā)生產(chǎn)的儀器都能滿足您的使用!

一六儀器提供的測厚儀可測試面積0.002mm?和80mm深槽的樣品

測厚儀的測試方法主要有：磁性測厚法，測厚法，電解測厚法，渦流測厚法，超聲波測厚法。

  測量注意事項(xiàng)：⒈在進(jìn)行測試的時(shí)候要注意標(biāo)準(zhǔn)片集體的金屬磁性和表面粗糙度應(yīng)當(dāng)與試件相似。

⒉測量時(shí)側(cè)頭與試樣表面保持垂直。

⒊測量時(shí)要注意基體金屬的臨界厚度，如果大于這個(gè)厚度測量就不受基體金屬厚度的影響。

⒋測量時(shí)要注意試件的曲率對(duì)測量的影響。因此在彎曲的試件表面上測量時(shí)不可靠的。

⒌測量前要注意周圍其他的電器設(shè)備會(huì)不會(huì)產(chǎn)生磁場，如果會(huì)將會(huì)干擾磁性測厚法。

一六儀器---鍍層測厚儀|光譜測厚儀|X-ray測厚儀|X熒光測厚儀|凃?qū)幽ず駜x

儀器規(guī)格：

 外形尺寸 ：550 mm x 480mm x 470 mm （長x寬x高）

 樣品倉尺寸 ：500mm×360 mm ×215mm （長x寬x高）

 儀器重量 ：55kg

 供電電源 ：交流220±5V

 da功率 ：330W

 環(huán)境溫度：15℃-30℃

 環(huán)境相對(duì)濕度：<70%

X射線測厚儀測量精度的影響因素有哪些

第四,在生產(chǎn)過程中,補(bǔ)償值也會(huì)對(duì)X射線測厚儀的測量精度造成影響。我們利用測厚儀測量是,會(huì)事先給測厚儀輸入一個(gè)補(bǔ)償值,讓測量值與實(shí)際值相等。在這個(gè)過程中,操作者首先對(duì)板材進(jìn)行測量,但是操作者使用量尺的方式不同,就會(huì)造成補(bǔ)償值的大小不等,會(huì)形成人為的誤差。介紹：測厚儀可以用來在線測量軋制后的板帶材厚度，并以電訊號(hào)的形式輸出。只有在進(jìn)行測量時(shí),操作者認(rèn)真操作,減少補(bǔ)償值得測算誤差,使補(bǔ)償值接近真實(shí)值,提高X射線測厚儀的測量精度。 

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儀器規(guī)格：

測厚儀和膜厚儀一樣嗎

   測厚儀和膜厚儀是不一樣的，膜厚儀屬于測厚儀的分類，也就是說測厚儀是膜厚儀的上司一樣，對(duì)此我們也可以來了解下測厚儀跟膜厚儀的一些概念：

測厚儀按原理分類:激光測厚儀、超聲波測厚儀、X射線測厚儀、壓力測厚儀、白光干涉測厚儀、電解式測厚儀、機(jī)械接觸式測厚儀。

測厚儀的原理：超聲波測厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理來進(jìn)行厚度測量，當(dāng)探頭發(fā)射超聲波脈沖通過被測物體到達(dá)材料分界面時(shí)，脈沖被反射回探頭，通過準(zhǔn)確測量超聲波在材料中傳播的時(shí)間來確定被測材料的厚度。凡能使超聲波以一恒定速度在其內(nèi)部傳播的各種材料均可采用此原理測量。測量范圍：（0~1250）μm（F1、N1測頭），F(xiàn)10測頭可達(dá)10mm。

性能優(yōu)勢(shì)：

下照式設(shè)計(jì)：可以快速方便地定位對(duì)焦樣品。

無損變焦檢測:可對(duì)各種異形凹槽進(jìn)行無損檢測，凹槽深度范圍0-90mm。

微聚焦射線裝置：可檢測面積小于0.002mm2的樣品，可測試各微小的部件。

精密微型滑軌：快速精準(zhǔn)定位樣品。

EFP先進(jìn)算法軟件：多層多元素，甚至有同種元素在不同層也難不倒EFP算法軟件。

如何安裝X射線測厚儀

2) C型架按運(yùn)行軌跡定位，并作感觀質(zhì)量檢查。

   3) C型架落入導(dǎo)軌后，就進(jìn)行冷卻水管、壓縮空氣的軟管及同軸電纜的連接。上述軟管及電纜應(yīng)順著撓性履帶的走向固定牢固。

   4) 儀表柜、主控臺(tái)，就地控制箱和前置放大器箱的安裝，根據(jù)現(xiàn)場施工條件分頭進(jìn)行吊裝。

   5) 電纜敷設(shè)，除同軸電纜外還包括控制系統(tǒng)電纜和測量信號(hào)系統(tǒng)電纜。