火花臺：火花臺內(nèi)部體積進一步縮小，優(yōu)化氣流向設(shè)計使得氣消耗更低，同時有效移除殘留粉塵。尾氣經(jīng)兩級過濾系統(tǒng)排出?；鸹ㄅ_工作維護量極低。壓桿可以左右移動，接駁安全電路?？梢钥焖俑鼡Q樣品。

適用分析大尺寸異型樣品。特殊設(shè)計的樣品夾可用于分析棒材、線材和薄片。小樣品分析程序提高了 分析精度和準確性。

基于用戶的分析需求，儀器可以定制成十種標準基體的任意組合。

有N通道的光電直讀光譜儀使用的是表面涂有氟化鎂的透鏡表面沾有少量的水分就會破壞氟化鎂涂層，因此不能浸泡在存放于密閉性能不好的容器中或者已經(jīng)使用了較長時間只剩一點兒的清洗液中,也不能用綢布反復用力擦拭,否則會擦壞氟化鎂涂層。

排灰管道排灰管道是用來對儀器內(nèi)部的灰塵進行排除的，還有過濾，對儀器自身的潔凈很重要。檢查管道確認。氣純度一些外界因素引發(fā)的光強值下降。

氣不純是一個重要因素。不純中水分等雜質(zhì)會影響激發(fā)效果，降低光強值,而且水分經(jīng)激發(fā)電離后產(chǎn)生氧，氧會吸收P、S等短波元素使這些元素的光強值下降,從而分析結(jié)果出現(xiàn)偏差。可以在氣管道中加置氣凈化裝置以提高純凈度。

但有些如高含量試樣對氬氣純度要求太高;即使是高純氬也不能完全激發(fā)，這時需適當延長預沖的時間或提高激發(fā)光源的頻率,使試樣完全激發(fā)提高光強值,以得到準確的檢測結(jié)果。 次數(shù)用完API KEY 超過次數(shù)限制

德國斯派克分析儀器公司SPECTRO全新研發(fā)的垂直同步雙觀測（DSOI）技術(shù)為提升ICP-OES的靈敏度提供了一種全新的解決方案。采用該技術(shù)解決了等離子體觀測的核心問題，靈敏度是傳統(tǒng)垂直觀測等離子體儀器的數(shù)倍，性能價格比優(yōu)異。

SPECTRO的垂直同步雙觀測（DSOI）方式，使用兩個光學接口捕獲來自垂直等離子體的發(fā)射光，使得微弱信號的檢測能力大幅提升，同時又允許高濃度、重基體進樣。進一步降低了記憶效應和污染風險。DSOI技術(shù)將傳統(tǒng)垂直觀測系統(tǒng)的靈敏度提高了數(shù)倍，避免了垂直雙觀測結(jié)構(gòu)的復雜缺點和降低了用戶使用成本。⑤、計算機操作時，應記下爐號，次數(shù)和鋼種，并要記錄操作者的姓名。 次數(shù)用完API KEY 超過次數(shù)限制

光譜儀維修必學的準則

“先簡后繁”，先從簡單的器件或部位下手，再進入復雜繁瑣的電路或線路。在維修電路時，根據(jù)儀器的電路原理，先從簡單的電路開始進行，如指示燈不亮、按鍵失靈或接觸不良、電壓電流表無指示或指示異常、電源插頭插座松動、保險絲是否熔斷、開關(guān)接觸是否可靠等。在此基礎(chǔ)上進一步維修復雜的而繁瑣主電路或線路，比如：變壓器、繼電器、接觸器、壓力傳感器、電磁閥、過壓（限壓）保護開關(guān)、流量傳感器等主控電路或線路。這幾年國家對環(huán)保把控嚴格，這項檢測技術(shù)沒有污染，并且可以幫助檢測污染和廢棄物，一些回收公司中直讀光譜儀漸漸流行起來。 次數(shù)用完API KEY 超過次數(shù)限制