手持光譜儀——產(chǎn)品概述

每一個原子都有自己固定數(shù)量的電子(負(fù)電微粒)運行在核子周圍的軌道上。而且其電子的數(shù)量等同于核子中的質(zhì)子(正電微粒)數(shù)量。從元素周期表中的原子數(shù)我們則可以得知質(zhì)子的數(shù)目。每一個原子數(shù)都對應(yīng)固定的元素名稱，例如鐵，元素名是Fe，原子數(shù)是26。 能量色散X螢光與波長色散X螢光光譜分析技術(shù)特別研究與應(yīng)用了里層三個電子軌道即K，L，M上的活動情況，其中K軌道較為接近核子，每個電子軌道則對應(yīng)某元素一個個特定的能量層。

手持光譜儀的原理

在XRF分析法中，從光發(fā)射管里發(fā)射出來的高能初級射線光子會撞擊樣本元素。這些初級光子含有足夠的能量可以將里層即K層或L層的電子撞擊脫軌。這時，原子變成了不穩(wěn)定的離子。由于電子本能會尋求穩(wěn)定，外層L層或M層的電子會進(jìn)入彌補內(nèi)層的空間。在這些電子從外層進(jìn)入內(nèi)層的過程中，它們會釋放出能量，我們稱之為二次X射線光子。而整個過程則稱為螢光輻射。每種元素的二次射線都各有特征。而X射線光子螢光輻射產(chǎn)生的能量是由電子轉(zhuǎn)換過程中內(nèi)層和外層之間的能量差決定的。例如，鐵原子Fe的Kα能量大約是6.4千電子伏。特定元素在一定時間內(nèi)所發(fā)射出來的X射線的數(shù)量或者密度，能夠用來衡量這種元素的數(shù)量。典型的XRF能量分布光譜顯示了不同能量時光子密度的分布情況。

手持光譜儀的應(yīng)用領(lǐng)域

考古/古物鑒定（Archaeology）

實時獲得該領(lǐng)域內(nèi)定量的基礎(chǔ)數(shù)據(jù)，對于考古學(xué)和古物保護者而言是重要的。

隨著技術(shù)的不斷發(fā)展和革新，鑒定古代藝術(shù)品的年份，從藝術(shù)品中獲取定量數(shù)據(jù)已經(jīng)成為考古學(xué)界和博物館的研究手段之一。不管在勘測、挖掘現(xiàn)場實地測繪、還是在古物物保護或起源鑒定的工作中，化學(xué)元素數(shù)據(jù)分析已成為常用方法。

手持光譜儀的優(yōu)勢

作為長期以來手持式X射線熒光分析儀的先導(dǎo)，無論是在現(xiàn)場、實驗室，還是博物館，手持光譜儀都具有為考古、古品保護工作者提供一套無損檢測解決方案的能力。這源于手持光譜儀可以選擇不同的分析模式對各種類型的環(huán)境進(jìn)行現(xiàn)場分析，如：選擇合金分析模式，可分析青銅器中的金屬元素含量；選擇土壤或礦物分析模式，可直接分析陶瓷、壁畫中的金屬成分和對考古現(xiàn)場進(jìn)行環(huán)境勘測，或?qū)⒉杉蟮臉悠费b袋進(jìn)行分析，均可取得具有價值的分析結(jié)果。