江蘇一六儀器有限公司   X射線熒光光譜測(cè)厚儀

先進(jìn)的技術(shù)，專業(yè)的團(tuán)隊(duì)，嚴(yán)格的企業(yè)管理是公司得以不斷發(fā)展壯大、產(chǎn)品能夠贏得客戶信賴的根本所在。歡迎咨詢聯(lián)系！

性能優(yōu)勢(shì)：

  下照式設(shè)計(jì)：可以快速方便地定位對(duì)焦樣品。

  無損變焦檢測(cè):可對(duì)各種異形凹槽進(jìn)行無損檢測(cè)，凹槽深度范圍0-90mm。

  微聚焦射線裝置：可檢測(cè)面積小于0.002m㎡的樣品，可測(cè)試各微小的部件。

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測(cè)厚儀有：X射線測(cè)厚儀、γ射線測(cè)厚儀、激光測(cè)厚儀.他們各有優(yōu)缺點(diǎn),就我目前了解到的情況沒有見到過紅外線的測(cè)厚儀,紅外線也是屬于光的一種,如果有的話應(yīng)該歸屬于激光測(cè)厚儀大類里面,紅外激光是不可見的光,用紅外激光做成的測(cè)厚儀可稱為紅外線測(cè)厚儀.

   1. X射線測(cè)厚儀：有性、測(cè)量精度高、價(jià)格高、射線可控.

   2. γ射線測(cè)厚儀：有性、測(cè)量精度高、價(jià)格低、射線不可控.

   3. 激光測(cè)厚儀：沒有性、測(cè)量精度可選、價(jià)格低.

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X射線測(cè)厚儀測(cè)量精度的影響因素

X射線源的衰減對(duì)于工廠現(xiàn)場(chǎng)的的標(biāo)定過程中,隨著使用時(shí)間的增加,燈管的曲線會(huì)發(fā)生變化,在同一電壓下,隨著使用燈管時(shí)間的遞加,厚度偏差會(huì)越來越大,因此,X射線源的衰減,是影響測(cè)量精度的一個(gè)主要原因。除了正常使用過程中X射線源會(huì)出現(xiàn)衰減,在出現(xiàn)某些故障是,也會(huì)發(fā)生突發(fā)性的衰減,出現(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)化通過不過,反饋的電壓與工廠現(xiàn)場(chǎng)標(biāo)準(zhǔn)電壓相差巨大,發(fā)生這種情況,X射線測(cè)厚儀的測(cè)量精度肯定是不準(zhǔn)確的。常用于測(cè)定鐵磁金屬表面上的噴鋁層、塑料層、電鍍層、磷化層、油漆層等的厚度。

X射線熒光的基本原理

一六儀器X射線熒光測(cè)厚儀 研發(fā)生產(chǎn)廠家 品質(zhì)保證

江蘇一六儀器有限公司研發(fā)的能量色散X熒光光譜儀具有穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng)、先進(jìn)的解譜方法和EFP算法結(jié)合精準(zhǔn)定位及變焦結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，解決了各種大小異形、多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析，歡迎來電咨詢！

當(dāng)X射線激發(fā)出試樣特征X射線時(shí)，其入射電磁輻射能量必須大于某一個(gè)值才能引起其內(nèi)層電子激發(fā)態(tài)從而形成空穴并引起電子的躍遷，這個(gè)值是吸收限，相當(dāng)于內(nèi)層電子的功函數(shù)。如果入射電磁輻射的能量低于吸收限則在任何情況下都不能激發(fā)原子內(nèi)層電子并產(chǎn)生特征X射線。探頭的放置方式對(duì)測(cè)量有很大影響，在測(cè)量中應(yīng)使探頭與試樣表面保持垂直。

X射線的激發(fā)

   如果要得到某元素的特征X射線，需要對(duì)元素原子內(nèi)層電子進(jìn)行激發(fā)，使得內(nèi)層電子獲得一定能量，能夠脫離原子核的束縛，從而在內(nèi)層軌道形成電子空穴，當(dāng)較高能級(jí)電子填補(bǔ)這一空穴時(shí)，才會(huì)發(fā)射一定能量的特征X射線，這個(gè)過程就是X射線的激發(fā)。