偏光片缺陷檢測(cè)的核心

視覺(jué)是一種前沿學(xué)科，視覺(jué)檢測(cè)是根據(jù)人眼識(shí)別的原理，通過(guò)硬件（相機(jī)、鏡頭、光源、電腦）與軟件的結(jié)合，實(shí)現(xiàn)設(shè)備的自動(dòng)化、智能化。其核心是硬件與軟件的結(jié)合。視覺(jué)軟件也是在不斷驗(yàn)證和完善的循環(huán)中螺旋上升，完全切合應(yīng)用場(chǎng)景，達(dá)到、的特性。 東莞市彤光電子科技深耕自動(dòng)化光學(xué)檢測(cè)領(lǐng)域十余載，積淀了濃厚的技術(shù)基礎(chǔ)，完全獨(dú)立自主開(kāi)發(fā)的軟件獲得了業(yè)內(nèi)客戶的廣泛認(rèn)可，在顯示領(lǐng)域已與國(guó)內(nèi)多家頭部企業(yè)合作，歡迎咨詢了解。彤光偏光片缺陷檢測(cè)，賦能新智造。

偏光片缺陷檢測(cè)的定位是什么樣的？

在偏光片缺陷檢測(cè)系統(tǒng)中，被測(cè)物件的支撐點(diǎn)方法、高精密傳送與定位設(shè)備也務(wù)必精心策劃，尤其是FPD、單晶硅片、半導(dǎo)體材料、MEMS和一些光學(xué)部件等精密制造與拼裝領(lǐng)域。在這種行業(yè)，生產(chǎn)制造全過(guò)程需要在潔凈間開(kāi)展，規(guī)定偏光片缺陷檢測(cè)系統(tǒng)有很高的自洗工作能力，不可以給工作環(huán)境尤其是被測(cè)產(chǎn)品工件自身產(chǎn)生二次污染，這會(huì)危害系統(tǒng)軟件預(yù)制構(gòu)件的原材料型號(hào)選擇、氣動(dòng)式及自動(dòng)化技術(shù)設(shè)備型號(hào)選擇、運(yùn)動(dòng)滑軌的設(shè)計(jì)方案與元器件型號(hào)選擇等。因而，會(huì)必須 采用氣浮機(jī)支撐點(diǎn)、定位與傳送組織及其運(yùn)用FFU離心風(fēng)機(jī)過(guò)慮發(fā)電機(jī)組對(duì)監(jiān)測(cè)系統(tǒng)開(kāi)展自然環(huán)境凈化處理，并采用消靜電感應(yīng)設(shè)備，對(duì)產(chǎn)品工件開(kāi)展抗靜電解決。

偏光片缺陷檢測(cè)的關(guān)鍵是什么？

快速圖象數(shù)據(jù)處理方法也是偏光片缺陷檢測(cè)系統(tǒng)的關(guān)鍵之一。因?yàn)锳OI檢測(cè)是根據(jù)圖象感測(cè)器方法獲得被測(cè)信息內(nèi)容的，尤其是快速在線監(jiān)測(cè)，圖象數(shù)據(jù)信息有時(shí)候是大量的，為達(dá)到生產(chǎn)節(jié)拍要求，務(wù)必選用快速數(shù)據(jù)處理方法技術(shù)性。會(huì)選用共享內(nèi)存、分布式系統(tǒng)運(yùn)行內(nèi)存多進(jìn)程解決、分布式系統(tǒng)電子計(jì)算機(jī)群集等方法，把極大的圖象分時(shí)圖、分層切分成一小塊數(shù)據(jù)流分析，分散化到群集系統(tǒng)軟件各連接點(diǎn)解決。偏光片缺陷檢測(cè)針對(duì)用時(shí)繁雜的優(yōu)化算法，有時(shí)候只靠電子計(jì)算機(jī)CPU難以達(dá)到時(shí)間規(guī)定，還需配置如DSP、GPU和FPGA等硬件配置解決控制模塊，協(xié)作完成迅速繁雜的測(cè)算難點(diǎn)。