γ計(jì)數(shù)器介紹

CAPRAC-t的設(shè)計(jì)和制造一直都極其可靠，且可以選擇Curie或Becquerel作為單位。該設(shè)備擁有自動(dòng)本底扣除和自我診斷程序，可使用較佳的信噪比完成系統(tǒng)測(cè)試。儀器包括鉛屏蔽層（1.3厘米厚）還有可選的輔助屏蔽。

?8英寸彩色SVGA觸摸顯示屏

?256通道MCA（配有詳細(xì)的光譜用于鑒定分析）

?NaI井型晶體探測(cè)器

?自動(dòng)能量校準(zhǔn)、穩(wěn)定性檢查和本底扣除

?井型計(jì)數(shù)器自動(dòng)QC（包括chi-square和MD

?手動(dòng)和自動(dòng)ROI

?為擦拭測(cè)試設(shè)定用戶可定義的協(xié)議

?通過可選的打印機(jī)打印出所有數(shù)據(jù)，以作為長性記錄

?光譜顯示的直接讀數(shù)的單位為dpm、Curies和Bequerels等

?符合NRC擦拭測(cè)試要求

?USB和RS232連接端口（用于連接PC和打印機(jī)）

?與核醫(yī)學(xué)信息管理系統(tǒng)兼容（通過USB）

?實(shí)驗(yàn)室測(cè)試包括吸收實(shí)驗(yàn)、血漿和紅細(xì)胞體積

內(nèi)置數(shù)據(jù)庫（用于測(cè)試和擦拭結(jié)果以及QC）

氣體電離探測(cè)器，與正比計(jì)數(shù)器類似，但所加的電壓更高。帶電粒子射入氣體，在離子增殖過程中，受激原子退激，發(fā)射紫外光子，這些光子射到陰極上產(chǎn)生光電子，光電子向陽極漂移，又引起離子增殖，于是在管中形成自激放電。為了使之能夠計(jì)數(shù)，計(jì)數(shù)器中充有有機(jī)氣體或鹵素蒸氣，能吸收光子，起到猝熄作用。蓋革-米勒計(jì)數(shù)器優(yōu)點(diǎn)是靈敏度高，脈沖幅度大，缺點(diǎn)是不能快速計(jì)數(shù)。

γ計(jì)數(shù)器的功能

γ計(jì)數(shù)器是一種使用異常方便、操作簡單的計(jì)數(shù)儀，采用大屏幕觸摸顯示屏。具有多道分析和光子能量譜圖及同位素識(shí)別與分析功能。

1、測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)準(zhǔn)確，使用井型NaI晶體探頭能在活度水平極其低的情況下進(jìn)行測(cè)試；  

2、在不需要多種樣本變換的部門，還能當(dāng)成單井γ計(jì)數(shù)器使用；  

3、可以用dpm, nCi, cps, dps或kBq來顯示結(jié)果；  

4、能自動(dòng)減去本底并且能自我檢查系統(tǒng)測(cè)試項(xiàng)目；  

5、外部有一個(gè)鉛防護(hù)板（1.3cm厚），并且還有一個(gè)輔助的防護(hù)板可以替換。  

γ計(jì)數(shù)器的優(yōu)勢(shì)

與其他井型計(jì)數(shù)器相比，CAPRAC-t 擁有更快的速度、更高的精度和更齊全的內(nèi)置功能。該計(jì)數(shù)器可以在6秒鐘內(nèi)完成—次擦拭測(cè)試(1 nci)，而檢測(cè)極低活度的精度甚至與NaI 并型探測(cè)器相當(dāng)。

CAPRAC-t的設(shè)計(jì)和制造一直都極其可靠，且可以選擇Curie或 Becquerel作為單位。該設(shè)備擁有自動(dòng)背景差分和自我診斷程序，可使用*的信噪比完成系統(tǒng)測(cè)試。這包括鉛制外屏蔽層（1.3厘米厚）與可選的輔助屏蔽層。