ICP光譜儀如何保養(yǎng)？

ICP光譜儀的氣體控制系統(tǒng)的維護(hù)，首先要做氣體試驗(yàn)，打開氣體控制系統(tǒng)的電源開關(guān)，使電磁閥處于工作狀態(tài)，然后開啟氣瓶及減壓閥，使氣體壓力指示在額定值上，然后關(guān)閉氣瓶，觀察減壓閥上的壓力表 指針，應(yīng)在幾個(gè)小時(shí)內(nèi)沒有下降或下降很少，否則氣路中有漏氣現(xiàn)象，需要檢查和排除。(1)ICP光譜儀使用環(huán)境，與其它大型精密儀器—樣，ICP光譜儀的運(yùn)行也需要在一定的環(huán)境下進(jìn)行，達(dá)不到這些條件，不僅是儀器的使用效果不好，而且還會改變儀器的檢測性能，甚至造成儀器損壞，影響使用的壽命。

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ICP光源觀察方式

雙向觀測：雙向觀測是在水平觀測ICP光源的基礎(chǔ)，增加一套側(cè)向采光光路，實(shí)現(xiàn)垂直/水平雙向觀測，即在炬管垂直觀測的方向依次放置3塊反射鏡，當(dāng)要使用垂直觀測的時(shí)候，就通過3塊反射鏡把炬管垂直方向上的光反射到原光路中，并通過旋轉(zhuǎn)原光路的塊反射鏡，使垂直方向來的光與原水平方向來的光在整個(gè)光路中重合。2、電離干擾的消除和抑制原子在火焰或等離子體的蒸氣相中電離而產(chǎn)生的干擾。該觀測方式的切換反射鏡由計(jì)算機(jī)控制，該方式融合了軸向、徑向的特點(diǎn)，具有一定的靈活性，增強(qiáng)了測定復(fù)雜樣品的能力。改觀測方式可實(shí)現(xiàn)以下3中方式的測量：

①全部元素譜線水平測量。

②全部元素譜線垂直測量。

③部分元素譜線水平測量，部分元素譜線垂直測量。

雙向觀測能有效解決水平觀測中存在的電子干擾，進(jìn)一步擴(kuò)寬線性范圍。但是該觀測方式需要不斷地切換反射鏡，可 能導(dǎo)致儀器的穩(wěn)定性變差。由于徑向觀測的需要，炬管側(cè)面必須開口，導(dǎo)致炬管的壽命大大降低，同時(shí)也改變了炬焰的形狀。對于制冷裝置應(yīng)該經(jīng)常清洗過濾網(wǎng)積灰，和定期更換水冷卻，保證制冷劑正常運(yùn)行，以上工作可由操作者完成，除此之外，氣體流量計(jì)、氣壓表和電磁閥也應(yīng)該檢測，如果出現(xiàn)故障應(yīng)該由本單位專業(yè)維護(hù)人員及時(shí)更換。炬管開口處必須嚴(yán)格與光路對準(zhǔn)，要不然炬管壁容易積累鹽，會使檢測結(jié)果嚴(yán)重錯(cuò)誤;同時(shí)如果在開口出現(xiàn)積鹽同樣也會導(dǎo)致儀器檢測結(jié)構(gòu)存在嚴(yán)重的錯(cuò)誤，必須注意清洗。而且增加了曝光次數(shù)，降低了分析速度，增加了分析消耗。

ICP光譜儀的校正

光學(xué)系統(tǒng)校正

在PROFILE儀器中，操作軟件自動控制儀器每30分鐘快速校正、每2小時(shí)完全校正光學(xué)系統(tǒng)。如果實(shí)驗(yàn)室環(huán)境溫度變化較大，不能保證工作條件，可能造成測量結(jié)果數(shù)據(jù)漂移。

光學(xué)系統(tǒng)校正使用燈，選擇Hg8線（波長253.652nm），儀器內(nèi)部裝有燈，只要按照操作規(guī)程操作即可。

等離子體位置校正

等離子體位置校正的目的是將光源對準(zhǔn)光學(xué)系統(tǒng)。通常在重新裝配進(jìn)樣系統(tǒng)后，點(diǎn)燃等離子體，用Mn溶液（10ug/mL）校正。

在等離子體位置校正過程中，值得注意的是：確保選中Mn 257.610波長、Mn溶液能夠正常進(jìn)入并形成氣溶膠進(jìn)入等離子體。如果上述條件沒有滿足，可能造成校正失敗。