測試， High Current Test耐電流測試

HCT耐電流測試是耐電流測試的一種方法。測試，HighCurrentTest耐電流測試HCT耐電流測試是耐電流測試的一種方法。測試中，孔鏈被施加一恒定的直流電流,使得孔鏈在設(shè)定的時(shí)間(t1-t0)內(nèi)升高到設(shè)定的高溫T1，然后繼續(xù)施加此電流,使得孔鏈在溫度T1至T2范圍以內(nèi),保持設(shè)定的時(shí)間(t2-t1),然后停止施加電流，使孔鏈冷卻時(shí)間(t3-t2),直到達(dá)到室溫。

在測試過程中，需要實(shí)時(shí)檢測孔鏈的電阻，電流。

耐電流參數(shù)測試

由于不同PCB產(chǎn)品的孔種類，孔徑，厚度，基材類型等設(shè)計(jì)以及制作工藝不同，達(dá)到相同HCT測試要求時(shí)，需要直流電流各不相同.

因此，對某種測試孔鏈進(jìn)行HCT測試之前，需要通過多次嘗試,為此種孔鏈找到合適的直流電流，使得此種孔鏈樣品能在此電流下達(dá)到測試要求,即,

1) 在t0至（t1 -容差）時(shí)間內(nèi)，樣品的溫度升高達(dá)到T1；

2) 在t1至t2時(shí)間范圍內(nèi)，樣品的溫度保持在T1至T2之間；

過去雷射盲孔的檢測，是運(yùn)用肉眼或3D測量儀器進(jìn)行逐一檢測，這種方法非常消耗人力，辛苦且只能檢查到一小部分的孔，威太的雷射盲孔檢測儀可全l面檢測HDI及ABF板上的每一個(gè)孔，且健側(cè) 時(shí)間從數(shù)小時(shí)大幅度縮減至數(shù)十秒，不但可以測出不良盲孔，更可以精準(zhǔn)且詳細(xì)的統(tǒng)計(jì)報(bào)告，做為生產(chǎn)的監(jiān)控與改善。經(jīng)過多年的沉淀與積累,公司先后獲得十多項(xiàng)發(fā)明專利,并形成了擁有自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)的優(yōu)勢。

針對雷射鉆孔的需求，提供具成本與效益的檢查機(jī)量測解決方案。