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可選擇面積樣品制備系統(tǒng);可用于元器件光發(fā)射,熱發(fā)射以及紅外成像分析的背面減?。豢蓽p薄位于晶圓, 多芯片模塊及混 合電路中的單個(gè)芯片;多層存儲(chǔ)芯片內(nèi)部分析的必備工具;無劃痕,可達(dá)鏡面效果;制樣面積從1x1mm到40x40mm。蘇州特斯特電子科技有限公司,主要從事各類測(cè)試、檢測(cè)儀器設(shè)備的代理銷售和技術(shù)服務(wù),產(chǎn)品涵蓋電子元器件,電路板,線纜線束的測(cè)試與檢測(cè)。設(shè)備主要來自于歐美日等先進(jìn)測(cè)試設(shè)備制造國(guó)家。
激光開封的方法主要應(yīng)用場(chǎng)合:
(1) 半導(dǎo)體器件的失效分析開封。塑封材料的和去除,取代傳統(tǒng)的低效率化學(xué)品開封,解決化學(xué)品開封對(duì)銅線及內(nèi)部器件的破壞。
(2) 塑封工藝設(shè)計(jì)和工藝參數(shù)有效性的驗(yàn)證。解決X射線無法檢測(cè)鋁線塑封后沖絲塌陷的問題,使完全開封后對(duì)銅線金線的打線點(diǎn)的仔細(xì)觀察成為可能。
(3) 應(yīng)用于模塊使用廠家,進(jìn)料檢驗(yàn)時(shí)完全打開器件以觀察內(nèi)部是否存在設(shè)計(jì)或生產(chǎn)缺陷。
激光開封機(jī)性能指標(biāo):
功率調(diào)節(jié)范圍:10%~100%。
光束直徑:7~8mm。
光束質(zhì)量:1.3~1.7。
激光開封機(jī)避免在以下場(chǎng)所使用:
- 易結(jié)露的場(chǎng)所
- 能觸及藥品的場(chǎng)所
- 垃圾, 灰塵, 油霧多的場(chǎng)所
- 在 CO2, NOx, Sox 等濃度高的環(huán)境中
目前國(guó)內(nèi)口碑較好的有美國(guó)的FALIT和臺(tái)灣的儀準(zhǔn)科技,因操作軟件、激光器技術(shù)等差異,兩家各有千秋。
蘇州特斯特電子科技有限公司,主要從事各類測(cè)試、檢測(cè)儀器設(shè)備的代理銷售和技術(shù)服務(wù),產(chǎn)品涵蓋電子元器件,電路板,線纜線束的測(cè)試與檢測(cè)。