激光開封機(jī)；易于操作，可以任意形狀打開塑封元件重疊在器件上的圖片可以進(jìn)行調(diào)整 - 透明度，圖像縮放，圖像旋轉(zhuǎn)和移動(dòng)德國產(chǎn)激光頭，1064nm激光，輸出功率20w，使用壽命高達(dá)4萬小時(shí)樣品臺(tái): 置中手動(dòng)樣品調(diào)節(jié)臺(tái)變焦鏡頭：18學(xué)放大，視場(chǎng): 8mm-140mm。蘇州特斯特電子科技有限公司，主要從事各類測(cè)試、檢測(cè)儀器設(shè)備的代理銷售和技術(shù)服務(wù)，產(chǎn)品涵蓋電子元器件，電路板，線纜線束的測(cè)試與檢測(cè)。設(shè)備主要來自于歐美日等先進(jìn)測(cè)試設(shè)備制造國家。

Nisene 是一家從事失效分析開封設(shè)備的美國公司，有著三十多年自動(dòng)開封研發(fā)制造歷史。 作為自動(dòng)塑封開封技術(shù)的，Nisene提供的產(chǎn)品，方法和技術(shù)支持來滿足所有半導(dǎo)體器件的開封要求。 公司不斷提供創(chuàng)新的，高質(zhì)量的產(chǎn)品來滿足不斷變化的半導(dǎo)體器件失效性分析領(lǐng)域內(nèi)的需求。蘇州特斯特電子科技有限公司，主要從事各類測(cè)試、檢測(cè)儀器設(shè)備的代理銷售和技術(shù)服務(wù)，產(chǎn)品涵蓋電子元器件，電路板，線纜線束的測(cè)試與檢測(cè)。

失效分析是對(duì)所有檢驗(yàn)、篩選、以及在電子系統(tǒng)上失效的元器件進(jìn)行的以檢測(cè)元器件(或半產(chǎn)品)不能正常工作(失去某種功能)原因?yàn)槟康牡囊幌盗性囼?yàn)。失效分析是在發(fā)現(xiàn)元器件失效后進(jìn)行的查找原因的過程，是以判別責(zé)任或改進(jìn)工藝為目的的。

其中DPA和失效分析，都需要對(duì)塑封器件進(jìn)行開封，不同于密封器件，塑封器件的芯片不是在空腔中，而是被塑封材料整個(gè)包裹住。因此，開封的這一步很關(guān)鍵。如何選擇合理有效的開封方法至關(guān)重要。