210度AD轉(zhuǎn)換器

北京啟爾特科技新到一批150度、175度、210度高溫AD轉(zhuǎn)換器,種類繁多，各種型號溫度檔都有，歡迎廣大石油測井單位用戶來電咨詢，提供具體參數(shù)要求，我司有專門的工程師提供選項參考。

并行比較型/串并行比較型（如TLC5510）

并行比較型AD采用多個比較器，僅作一次比較而實行轉(zhuǎn)換，又稱FLash(快速)型。由于轉(zhuǎn)換速率極高，n位的轉(zhuǎn)換需要2n-1個比較器，因此電路規(guī)模也極大，價格也高，只適用于視頻AD轉(zhuǎn)換器等速度特別高的領(lǐng)域。

串并行比較型AD結(jié)構(gòu)上介于并行型和逐次比較型之間，典型的是由2個n/2位的并行型AD轉(zhuǎn)換器配合DA轉(zhuǎn)換器組成，用兩次比較實行轉(zhuǎn)換，所以稱為Half flash(半快速)型。基本原理是將輸入電壓變換成與其平均值成正比的時間間隔，再把此時雙積分式AD轉(zhuǎn)換器原理圖間間隔轉(zhuǎn)換成數(shù)字量，屬于間接轉(zhuǎn)換。還有分成三步或多步實現(xiàn)AD轉(zhuǎn)換的叫做分級（Multistep/Subrangling）型AD，而從轉(zhuǎn)換時序角度又可稱為流水線（Pipelined）型AD，現(xiàn)代的分級型AD中還加入了對多次轉(zhuǎn)換結(jié)果作數(shù)字運算而修正特性等功能。這類AD速度比逐次比較型高，電路規(guī)模比并行型小。

175度高溫AD轉(zhuǎn)換器

電容陣列逐次比較型

電容陣列逐次比較型AD在內(nèi)置DA轉(zhuǎn)換器中采用電容矩陣方式，也可稱為電荷再分配型。d/a轉(zhuǎn)換器是計算機或其它數(shù)字系統(tǒng)與模擬量控制對象之間聯(lián)系的橋梁，它的任務(wù)是將離散的數(shù)字信號轉(zhuǎn)換為連續(xù)變化的模擬信號。一般的電阻陣列DA轉(zhuǎn)換器中多數(shù)電阻的值必須一致，在單芯片上生成的電阻并不容易。如果用電容陣列取代電阻陣列，可以用低廉成本制成單片AD轉(zhuǎn)換器。近的逐次比較型AD轉(zhuǎn)換器大多為電容陣列式的。

175度現(xiàn)貨AD轉(zhuǎn)換器

隨著科技的飛速發(fā)展、高分辨率的數(shù)?；旌想娐返膽?yīng)用不斷深入，電路設(shè)計日趨復(fù)雜，精度越來越高，所以AD轉(zhuǎn)換電路的設(shè)計就成了儀器儀表及各種測量控制系統(tǒng)的難點。逐次比較型（如TLC0831）逐次比較型AD由一個比較器和DA轉(zhuǎn)換器通過逐次比較邏輯構(gòu)成，從MSB開始，順序地對每一位將輸入電壓與內(nèi)置DA轉(zhuǎn)換器輸出進行比較，經(jīng)n次比較而輸出數(shù)字值。本系統(tǒng)來源于儀器儀表的溫控系統(tǒng)設(shè)計，采用、低溫漂的模擬、數(shù)字器件，輔以52系列單片機為控制器，以復(fù)雜可編程邏輯器件 CPLD （Comp lex Programmable Array Logic）為頻率測試的硬件平臺，實現(xiàn)了高分辨率、低線性誤差的AD轉(zhuǎn)換器的設(shè)計。通過本設(shè)計掌握、低漂移的AD轉(zhuǎn)換器的設(shè)計方法， CPLD的設(shè)計，以及52系列單片機的硬件設(shè)計及軟件編程。

測井210度AD轉(zhuǎn)換器

與傳統(tǒng)無線電不同，軟件無線電要求盡可能地以數(shù)字形式處理無線信號，因此必須將A/D和D/A轉(zhuǎn)換器盡可能地向天線端推移，這就對A/D和D/A轉(zhuǎn)換器的性能提出了更高的要求。主要體現(xiàn)在兩個方面。

（1）采樣速率。依據(jù)采樣定理，A/D轉(zhuǎn)換器的抽樣頻率fs應(yīng)大于2Wa（Wa為被采樣信號的帶寬）。在實際中，由于A/D轉(zhuǎn)換器件的非線性、量化噪聲、失真及接收機噪聲等因素的影響，一般選取fs>2.5Wa。

（2）分辨率。采樣值的位數(shù)的選取需要滿足一定的動態(tài)范圍及數(shù)字部分處理精度的要求，一般分辨率80dB的動態(tài)范圍要求下不能低于12位。