ICP光譜儀故障簡單排除方法

在ICP光譜分析中，ICP光譜儀出現(xiàn)各種各樣的故障問題是難免的，故障的產(chǎn)生將給測試工作帶來許多的不利因素，如果操作者掌握一些儀器故障的簡單排除方法，會給日常測試工作帶來很大便利。

如果遇到復(fù)雜的儀器故障問題，操作者如果能準(zhǔn)確而詳盡地描述故障現(xiàn)象，也會給維修人員給予極大的幫助，使廠家維修人員可以不再現(xiàn)場的情況下對儀器的故障正確判斷，有的故障可以通過電話指導(dǎo)幫助操縱人員排除;即使相對復(fù)雜的問題，廠家維修人員也能在現(xiàn)場時做好充足的準(zhǔn)備工作，使故障問題可以盡快解決。如果實(shí)驗(yàn)室環(huán)境溫度變化較大，不能保證工作條件，可能造成測量結(jié)果數(shù)據(jù)漂移。

目前各個廠家各個型號的ICP光譜儀計算機(jī)系統(tǒng)都有它自己的診斷程序，在診斷程序的幫助下會給操作者提供正確的檢查方法，方便操作者查找儀器的故障，所以在儀器出現(xiàn)故障時，操作者首先要確認(rèn)儀器的計算機(jī)系統(tǒng)是否正常工作，根據(jù)計算機(jī)系統(tǒng)的提示尋找故障部位。頻率和輸入功率：激發(fā)溫度隨功率增大而，近似線性關(guān)系，在其他條件相同時，增加頻率，放電溫度降低。

另外操作者還可以通過聽、看和摸等方式來確定儀器故障。

ICP光譜儀的故障與其使用環(huán)境、儀器的性能、操作人員的業(yè)務(wù)能力及日常維護(hù)水平密切相關(guān)。其故障可分為性能故障和使用故障兩大類。

性能故障時由于儀器本身設(shè)計或安裝或某些元器件不符合要求而引起;使用故障時儀器的使用環(huán)境不符合儀器的要求，或是由于操作者未按照規(guī)定要求使用和維護(hù)儀器不當(dāng)而引起的。也不要在沒有廠家安裝圖紙的情況下安裝好通風(fēng)，到時候儀器來了有可能位置高度均不合適，哪樣就得重新安裝通風(fēng)。同一個故障既可能有性能故障引起，也能由使用故障而引起，因此要根據(jù)儀器故障現(xiàn)象來一一識別。

ICP光譜儀高溫灰化法是什么？

ICP光譜儀制樣中灰化分解法是指在高溫電阻爐中，加熱試料至(400~550）℃，使試料灰化后，再用酸溶解法。比如灰化分解食品、塑料、有機(jī)物粉末等試料，其具有短時間分解、同時處理多個試料、試劑用量少、操作簡單等特點(diǎn)。如鈮和鉭、銑和鉿、十幾種稀土元素的分析用其他方法都很困難，而對aes來說是毫無困難之舉。該法對低沸點(diǎn)和容易揮發(fā)的元素Hg、As、Se、Te、Sb的測定個適用。干法灰化分解法還可分為高溫灰化法和低溫灰化法。

高溫灰化法是指灰化溫度高于100℃的灰化分解方法，是一種經(jīng)典的化學(xué)分析前處理方法，它對于破壞生化、環(huán)境和食品等試料中的有機(jī)基體是行之有效的，該法實(shí)際上就是在高溫F(用馬弗爐或者高溫爐)氧化分解試料的方法。試料一般先經(jīng)（100~105）℃干燥（放人a堆蝸或陶瓷用鍋），除去水分及揮發(fā)物質(zhì)，準(zhǔn)確稱重放入高溫電阻爐中，灰化溫度一般設(shè)置在基體和空氣中的氧氣發(fā)生反應(yīng)，直到所有有機(jī)物徹底分解成二氧化碳、水和其他易揮發(fā)的物，留下不揮發(fā)的金屬氧化物、非揮發(fā)性硫酸鹽、磷酸鹽和硅酸鹽等無機(jī)殘留物。根據(jù)色散組件的分析原理，ICP光譜儀器可分為：棱鏡ICP光譜儀，衍射光柵ICP光譜儀和干涉ICP光譜儀。殘留物用蔽溶解后，移入容量瓶定容待分析。

該技術(shù)主要優(yōu)點(diǎn)是：可以同時處理大批試料并且用少量的酸等解殘留物；灰化后的殘留物完全游離于有機(jī)物外并無試劑玷污，空白低；試料基體被大是減少；方法簡單，適用于試料中金屬氧化物的測定。

ICP光譜儀行業(yè)在迅速發(fā)展

全球已進(jìn)入科技信息化時代，科技技術(shù)革命正在逐步滲透到經(jīng)濟(jì)社會的各個產(chǎn)業(yè)，而分析行業(yè)同樣在迅速發(fā)展。越來越多企業(yè)對產(chǎn)品質(zhì)量的要求越來越高，ICP光譜儀器設(shè)備也成為時代發(fā)展下提升產(chǎn)品質(zhì)量的新風(fēng)向。

隨著工業(yè)的發(fā)展和產(chǎn)品要求的提高，研發(fā)新型和性能金屬材料的需求日益增加，各種痕量元素的測定變得愈加重要。

同時，傳統(tǒng)的化學(xué)分析方法操作步驟比較繁瑣，在緊急情況下，不能及時得到分析結(jié)果;其次，化學(xué)分析完成后，試劑的處理是一個難點(diǎn)，隨意處置會造成環(huán)境污染。因此光譜設(shè)備相對傳統(tǒng)化學(xué)分析方法，是金屬冶煉，鑄造等行業(yè)的更好選擇。

另一方面，直讀ICP光譜儀測樣非?？焖?，可以一次性分析多元素，節(jié)省分析時間，適合用于爐前快速分析。分析結(jié)果準(zhǔn)確，是許多鑄造，金屬冶煉的必備工具。

企業(yè)對產(chǎn)品質(zhì)量的要求對ICP光譜儀應(yīng)用領(lǐng)域的進(jìn)一步拓寬起到了積極作用，極大地帶動了ICP光譜儀器設(shè)備市場需求量 的增加。隨著我國經(jīng)濟(jì)發(fā)展邁進(jìn)新時代，分析儀器行業(yè)亦開啟了新篇章。

ICP光譜儀的來歷

ICP光譜儀在國內(nèi)的發(fā)展也不過幾十年的時間，不可謂短或長。 電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀（簡稱ICP光譜儀），因?yàn)榫哂懈哽`敏度，高精密度，低基體效應(yīng)和具有一起多元素剖析能力等一系列特色，自1975年呈現(xiàn)產(chǎn)品儀器以來，很快在各剖析范疇得到廣泛應(yīng)用，變成資料、環(huán)境、地礦、冶金、食物、化工、生化、產(chǎn)品檢驗(yàn)及科研范疇通用的無機(jī)元素剖析東西。ICP光譜儀的構(gòu)造和技能也在不斷的改善和發(fā)展。1991年新的中階梯光柵固態(tài)檢測器ICP-OES儀器面世，即國內(nèi)所說的全譜直讀電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀。1993年國外出產(chǎn)的該類儀器進(jìn)入中國市場，目前國內(nèi)還沒有制造商將全譜直讀電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀產(chǎn)業(yè)化等離子體光譜與其它大型精密儀器一樣，需要在必定的環(huán)境下運(yùn)轉(zhuǎn)，失掉這些條件，不僅儀器的運(yùn)用效果欠好，并且改動儀器的檢查功能，乃至形成損壞，縮短壽數(shù)。依據(jù)光學(xué)儀器的特色，對環(huán)境溫度和濕度有必定請求。批量樣品的測定應(yīng)注意樣品間應(yīng)用稀的酸或去離子水清洗，個別高含量的樣品應(yīng)稀釋后重新測定，并注意清洗足夠的時間，以避免污染下一個樣品。假如溫度改變太大，光學(xué)組件受溫度改變的影響就會發(fā)作譜線漂移，形成測定數(shù)據(jù)不穩(wěn)定，ICP光譜儀通常室溫請求維持在70～75攝氏度間的一個固定溫度，溫度改變應(yīng)小于±1攝氏度。濕度對高頻發(fā)作器的影響也十分重要，濕度過大，輕則等離子體不簡單點(diǎn)著，重則高壓電源及高壓電路放毀組件，如功率管隔直陶瓷電容擊穿，輸出電路阻抗匹配、網(wǎng)絡(luò)中的可變電容放電等，以致?lián)p壞高頻發(fā)作器。ICP光譜儀通常室內(nèi)濕度應(yīng)小于百分之70，控制在百分之45～60之間，應(yīng)有空氣凈化設(shè)備。曩昔因?yàn)榛ㄊ┕?，我們的環(huán)境條件很差，乃至儀器室多次被水淹，受潮及室溫改變過大，儀器不是定位艱難即是常常發(fā)作毛病。搬到新的儀器室后條件改善了，儀器運(yùn)轉(zhuǎn)就正常多了。。以上就是對ICP光譜儀的來歷和一些知識的介紹，希望對大家對認(rèn)識ICP光譜儀有所幫助。