由于涂鍍層測(cè)厚儀（膜厚儀）使用頻繁、工作環(huán)境等原因造成儀器測(cè)量時(shí)有故障，耽誤生產(chǎn)請(qǐng)及時(shí)聯(lián)系廠家維護(hù)

一：儀器不開(kāi)機(jī)————

①請(qǐng)檢查確認(rèn)電池是否有電，或更換新的電池。

②請(qǐng)檢查電池是否接觸良好，且電極片沒(méi)有氧化或生銹等-（如生銹—可用工具刮掉氧化層）

③請(qǐng)檢查按鍵是否按壓到位，且按鍵正常有彈性。

④其它主機(jī)線路故障------ 咨詢(xún)公司售后服務(wù)或返廠檢修

二：儀器測(cè)量不準(zhǔn)————

①請(qǐng)系統(tǒng)校準(zhǔn)儀器，標(biāo)定，使之符合誤差范圍------誤差遵循≦3%(厚度值）±1um如需測(cè)試更加精準(zhǔn)請(qǐng)?jiān)诒粶y(cè)工件的光滑裸基上（而不是隨機(jī)帶的的鐵塊）進(jìn)行系統(tǒng)校準(zhǔn)。

②請(qǐng)檢查探頭前端是否磨損，是否變形，有附著物質(zhì)等-------探頭外護(hù)套是否不在水平等,變形可適當(dāng)用砂紙打磨修正，處理干凈.

③被測(cè)件基材表面粗糙度影響，引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差----- 測(cè)量時(shí)在不同位置增加測(cè)量次數(shù)，克服偶然誤差?；蛴蒙凹埓蚰セ闹匦滦?duì)儀器零點(diǎn)。

④測(cè)量手法以及探頭的放置-------需保持探頭與試樣垂直

⑤被測(cè)件曲度---------在該探頭所適應(yīng)的曲率半徑下，重新校準(zhǔn)。尤其管道凸面，注意探頭V型卡槽穩(wěn)定放置。

⑥其它因素請(qǐng)參閱說(shuō)明書(shū)-----------咨詢(xún)公司售后服務(wù)或返廠檢修

測(cè)量值精度的影響因素1．影響因素的有關(guān)說(shuō)明a 基體金屬磁性質(zhì)磁性法測(cè)厚受基體金屬磁性變化的影響（在實(shí)際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的），為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)；亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn)。b 基體金屬電性質(zhì)基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)測(cè)量有影響，而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。