器視覺(jué)是人工智能正在快速發(fā)展的一個(gè)分支。簡(jiǎn)單說(shuō)來(lái)，機(jī)器視覺(jué)就是用機(jī)器代替人眼來(lái)做測(cè)量和判斷。在相當(dāng)長(zhǎng)的一段時(shí)期內(nèi)，測(cè)量基本上是靜態(tài)的，即測(cè)量對(duì)象在測(cè)量過(guò)程中不變化或不明顯變化。機(jī)器視覺(jué)系統(tǒng)是通過(guò)機(jī)器視覺(jué)產(chǎn)品(即圖像攝取裝置，分CMOS和CCD兩種)將被攝取目標(biāo)轉(zhuǎn)換成圖像信號(hào)，傳送給專(zhuān)用的圖像處理系統(tǒng)，得到被攝目標(biāo)的形態(tài)信息，根據(jù)像素分布和亮度、顏色等信息，轉(zhuǎn)變成數(shù)字化信號(hào);圖像系統(tǒng)對(duì)這些信號(hào)進(jìn)行各種運(yùn)算來(lái)抽取目標(biāo)的特征，進(jìn)而根據(jù)判別的結(jié)果來(lái)控制現(xiàn)場(chǎng)的設(shè)備動(dòng)作。

魯棒性：另一個(gè)測(cè)試好光源的方法是看光源是否對(duì)部件的位置敏感度。當(dāng)光源放置在攝像頭視野的不同區(qū)域或不同角度時(shí)，結(jié)果圖像應(yīng)該不會(huì)隨之變化。方向性很強(qiáng)的光源，增大了對(duì)高亮區(qū)域的鏡面反射發(fā)生的可能性，這不利于后面的特征提取。好的光源需要能夠使你需要尋找的特征非常明顯，除了是攝像頭能夠拍攝到部件外，好的光源應(yīng)該能夠產(chǎn)生對(duì)比度、亮度足夠且對(duì)部件的位置變化不敏感。有些采集卡有內(nèi)置的數(shù)字輸入以觸發(fā)采集卡進(jìn)行，當(dāng)采集卡抓拍圖像時(shí)數(shù)字輸出口就觸發(fā)閘門(mén)。光源選擇好了，剩下來(lái)的工作就容易多了。具體的光源選取方法還在于試驗(yàn)的實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)。

2.

科學(xué)技術(shù)向微小領(lǐng)域發(fā)展，制造業(yè)要求的測(cè)量精度也在不斷提高，由微米級(jí)向納米級(jí)發(fā)展。納米(nm)即為 10-9m，納米技術(shù)定義為尺寸或公差范圍為 0.1～100nm 的制造、測(cè)量等技術(shù)。隨著現(xiàn)代科學(xué)技術(shù)的不斷發(fā)展，眾多高科技領(lǐng)域均已進(jìn)入了納米世界，如精密元器件的測(cè)量、電子工業(yè)高密度半導(dǎo)體集成電路等等。納米技術(shù)的加工離不開(kāi)納米精度的測(cè)量技術(shù)和設(shè)備，目前，國(guó)外一些研究機(jī)構(gòu)不僅已在表面輪廓、長(zhǎng)度、基本常數(shù)等測(cè)量上達(dá)到了納米級(jí)，而且還在一維位移和微觀形貌測(cè)量上實(shí)現(xiàn)了0.1 納米級(jí)。在大批量的布匹檢測(cè)中，用人工檢查產(chǎn)品質(zhì)量效率低且精度不高，用機(jī)器視覺(jué)檢測(cè)方法可以大大提高生產(chǎn)效率和生產(chǎn)的自動(dòng)化程度。納米測(cè)量的主要儀器有光干涉測(cè)量?jī)x、量子干涉儀、電容測(cè)微儀、電感測(cè)微儀、X 射線干涉儀、掃描電子顯微鏡（SEM）、掃描隧道顯微鏡（STM）、原子力顯微鏡（AFM）等。

機(jī)器是指由零部件組裝成的裝置,可以運(yùn)轉(zhuǎn),用來(lái)代替人的勞動(dòng)、作能量變換或產(chǎn)生有用功。機(jī)器一般由動(dòng)力部分、傳動(dòng)部分、執(zhí)行部分和控制部分組成。從能量角度定義，機(jī)器為利用或轉(zhuǎn)換機(jī)械能的裝置，將其他形式的能量轉(zhuǎn)換為機(jī)械能的稱(chēng)原動(dòng)機(jī)，如內(nèi)燃機(jī)、蒸汽機(jī)，電動(dòng)機(jī)等，利用機(jī)械能來(lái)完成有用功的稱(chēng)工作機(jī)，如各種機(jī)床、起重機(jī)、壓縮機(jī)等。⒋針對(duì)不同尺寸的零件，排序裝置和輸送裝置可以調(diào)整料道的寬度，使零件在固定路徑上運(yùn)動(dòng)并進(jìn)行視覺(jué)檢測(cè)。隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展，機(jī)器的概念也在不斷地更新和變化。