蔡司三坐標(biāo)測量機(jī)

代表產(chǎn)品

蔡司三坐標(biāo)CenterMax

無需專門的計(jì)量室為生產(chǎn)現(xiàn)場的測量帶來了極大的方便，同時(shí)也降低了工廠的運(yùn)營成本，而這正是CenterMax作為生產(chǎn)型三坐標(biāo)測量機(jī)的優(yōu)勢所在。無論溫度的異常波動(dòng)，還是典型的地面振動(dòng)，都不會(huì)影響其測量精度，因此可無縫并入生產(chǎn)線中使用。該機(jī)采用鑄石技術(shù)的實(shí)心機(jī)座結(jié)構(gòu)堅(jiān)固，在氣浮軸承上的全封閉測量軸適于高精度并可抗御外界污染，主動(dòng)性減振降低了地基振動(dòng)對測量結(jié)果的不好影響。

接觸式測頭與光學(xué)測頭

近年來流行著一些帶有誤導(dǎo)性的宣傳，導(dǎo)致部分用戶對光學(xué)測頭有過高的期待，例如“用光學(xué)測頭一掃，零件的所有尺寸都出來了”等等，這對光學(xué)測頭實(shí)際上存在很大的誤解。從目前的狀態(tài)來說，接觸式與光學(xué)測頭之間主要是相互補(bǔ)充的關(guān)系，而非競爭。三維光學(xué)測頭有不同的分類，比如點(diǎn)光源、線光源、面光源，不同的測頭其應(yīng)用場合有顯著區(qū)別。我們將光學(xué)測頭的應(yīng)用大致分成兩類：表面數(shù)字化和三維測量。

接觸式測頭采點(diǎn)

非接觸式光學(xué)測頭直接利用光點(diǎn)的反射信號(hào)來獲取被測點(diǎn)的坐標(biāo)，不存在半徑補(bǔ)償?shù)沫h(huán)節(jié)，因此能夠完全余弦誤差產(chǎn)生的源頭。再者，在測量易變性零件時(shí)，雖然測力不大，但零件還是會(huì)在力的作用下造成一定變形(例如下圖中的薄葉片，測量頂部截面時(shí)，葉盆時(shí)葉片受到測力影響朝葉背方向彎曲，反之亦然)。雖然彎曲變形量不大，但是考慮到葉片本身極薄，其相對變形量還是非?？捎^的，會(huì)對得出的輪廓度與位置度都造成非常大的影響。