多層陶瓷電容本地SMD

多層陶瓷電容 　　本地SMD陶瓷電容器的電容很容易出現(xiàn)焊點問題，這可能是由于一些應(yīng)力和裂紋。為了盡量減少出現(xiàn)的可能性，建議避免使用多個并聯(lián)的陶瓷電容器。 　　輸出整流二極管 　　二極管主要承受兩種主要的電應(yīng)力，包括反向電壓電阻和正向電流，而二極管也是加熱裝置。為了確保該設(shè)備的使用壽命，我們將在設(shè)計時流出足夠的余量，后保證電源適配器的批量性能。 　　光電耦合器 　　隨著時間的推移，電流傳輸比(CTR)逐漸減小。為了保持環(huán)路的穩(wěn)定，LED的電流將繼續(xù)增大，終達到極限值，造成光耦合破壞。

防冷防熱。不要將充電器放在溫度過高的地方。高溫會縮短電子器件的壽命，毀壞充電器，使有些塑料部件變形或熔化。也不要將充電器存放在過冷的地方。當(dāng)充電器在過冷的環(huán)境工作時，內(nèi)部溫度升高時，充電器內(nèi)會形成潮氣，毀壞電路板。

防烈性化學(xué)制品。不要用烈性化學(xué)制品、清洗劑或強洗滌劑清洗充電器。清除充電器外觀污漬可用棉花沾少量無水酒精擦洗。

電源適配器功能測試

電源調(diào)整率:是輸入電壓變化時輸出電壓的差值除以標(biāo)準(zhǔn)設(shè)定輸出電壓然后變化成百分數(shù).

負載調(diào)整率:電源負載的變化會引起電源輸出的變化,負載增加,輸出降低,相反負載減少,輸出升高.好的電源負載變化引起的輸出變化減到,通常指標(biāo)為3%--5%.

輸出電壓調(diào)整:就是負載變化時輸出電壓的差值除以標(biāo)準(zhǔn)設(shè)定輸出電壓然后變化成百分數(shù).

電源良好/失效時間:電源的電源良好時間為從其輸出電壓穩(wěn)定時起到PGS信號由0變?yōu)?的時間,一般值為100ms到2000ms之間.電源的電源失效時間為從PGS信號由由1變?yōu)?的時間起到其輸出電壓低于穩(wěn)壓范圍的時間:以ms為單位,一般值為1ms以上.

啟動及保持時間:啟動時間為電源供應(yīng)器從輸入接上電源起到其輸出電壓上升到穩(wěn)壓范圍內(nèi)為止的時間,保持時間為電源供應(yīng)器從輸入切斷電源起到其輸出電壓下降到穩(wěn)壓范圍外為止的時間.

輸出漣波及雜訊:輸入電壓與輸出負載電流均不變的情況下,其平均直流輸出電壓上的周期性與隨機性偏差量的電壓值通常以mVp-p峰對峰值電壓為單位來表示.

輸入功率及效率:即為輸出直流功率之總和與輸入功率之比值.通常個人電腦用電源供應(yīng)器之效率為65%~80%左右.

動態(tài)負載或暫態(tài)負載:為負載電流迅速上升,下降之斜率,周期等,若電源供應(yīng)器在惡劣負載狀況下,仍能夠維持穩(wěn)定的輸出電壓不產(chǎn)生過高激或過低情形.

綜合調(diào)整率:所有其它輸出電路負載跨步變對該路輸出電壓精度影響的百分比.

電源適配器電磁兼容測試

電源適配器電磁兼容測試是指設(shè)備或系統(tǒng)在其電磁環(huán)境中符合要求運行并不對其環(huán)境中的任何設(shè)備產(chǎn)生無法忍受的電磁干擾的能力,并應(yīng)

　　　　 　符合CISPR 22、CLASS B之傳導(dǎo)與幅射的4dB馀裕度,電源供應(yīng)器需在以下三種負載狀況下測試：每個輸出為空載,每個輸出為50%

　　　　 　負載,每個輸出為100%負載.傳導(dǎo)干擾/:經(jīng)由電源線之傳導(dǎo)性干擾/.幅擾/:經(jīng)由磁場之幅射性干擾/.這

　　　　 　個測試一般是在特定的環(huán)境下測試.

　電源適配器老化測試

老化壽命測試:在老化間高溫環(huán)境約50-60度及長時間大約約4-24小時滿載測試.