蔡司三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)

蔡司MMZ M滿足苛刻的精度要求適用于復(fù)雜工件的橋式北京三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)

以有利的采購(gòu)成本進(jìn)行測(cè)星一這是開發(fā)蔡司MMZM時(shí)的目標(biāo)。三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)非常適合檢查復(fù)雜的工件，特別是那些具有嚴(yán)格公差要求的工件。

蔡司MMZ M特點(diǎn)

機(jī)械工程師以及風(fēng)力渦輪機(jī)和齒輪系制造商使用蔡司MMZM三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)。

高精度的測(cè)量

可抵抗惡劣的環(huán)境條件，以盡可能地減少對(duì)測(cè)量室的需求

大軸承間隙和穩(wěn)定的橋架設(shè)計(jì)，可實(shí)現(xiàn)出色的掃描性能

REACH CFX 3 MMZ測(cè)針延長(zhǎng)桿用于測(cè)量非常深的鉆孔(1,200mm)

需要注意的事

三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)在測(cè)量零件時(shí)，是用探針的寶石球與被測(cè)零件表面接觸，接觸點(diǎn)與系統(tǒng)傳輸?shù)膶毷蛑行狞c(diǎn)的坐標(biāo)相差一個(gè)寶石球的半徑，需要通過校驗(yàn)得到的探針的實(shí)測(cè)半徑值，對(duì)測(cè)量結(jié)果補(bǔ)償修正。

在選擇三坐標(biāo)測(cè)頭的過程中，常常出現(xiàn)是由預(yù)算決定配置，從而導(dǎo)致配置過剩或者配置不足的尷尬情況。

配置三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的測(cè)頭時(shí)，實(shí)際會(huì)面臨來自多個(gè)方面的選擇困難，比如“固定式還是旋轉(zhuǎn)式”、“掃描測(cè)頭還是觸發(fā)測(cè)頭”、“三軸聯(lián)動(dòng)還是五軸聯(lián)動(dòng)”、“接觸式測(cè)頭還是光學(xué)測(cè)頭”等等，而且還逃不開預(yù)算的限制。雖然后一項(xiàng)因素有時(shí)能夠起到一票否決的作用，但我們有必要從技術(shù)角度了解各類測(cè)頭的特點(diǎn)及適用場(chǎng)合和限制，以便在綜合條件下能夠選到適宜的測(cè)頭，滿足測(cè)量要求。

觸發(fā)測(cè)頭

測(cè)點(diǎn)數(shù)目給了我們很清楚的指示，如果被測(cè)零件的測(cè)量要求中有關(guān)于圓度的測(cè)量需求，那需要使用掃描測(cè)頭。試想一下，如果1個(gè)圓的64個(gè)測(cè)點(diǎn)采用單點(diǎn)觸發(fā)式測(cè)頭來測(cè)量的話，其測(cè)量效率顯然是難以讓人接受的。從測(cè)量效率和合理性出發(fā)，事實(shí)上不僅是圓度，其它類型的形狀公差測(cè)量都應(yīng)采用連續(xù)掃描測(cè)頭，否則難以準(zhǔn)確地評(píng)價(jià)被測(cè)元素的形狀公差。

接觸式測(cè)頭采點(diǎn)

非接觸式光學(xué)測(cè)頭直接利用光點(diǎn)的反射信號(hào)來獲取被測(cè)點(diǎn)的坐標(biāo)，不存在半徑補(bǔ)償?shù)沫h(huán)節(jié)，因此能夠完全余弦誤差產(chǎn)生的源頭。再者，在測(cè)量易變性零件時(shí)，雖然測(cè)力不大，但零件還是會(huì)在力的作用下造成一定變形(例如下圖中的薄葉片，測(cè)量頂部截面時(shí)，葉盆時(shí)葉片受到測(cè)力影響朝葉背方向彎曲，反之亦然)。雖然彎曲變形量不大，但是考慮到葉片本身極薄，其相對(duì)變形量還是非?？捎^的，會(huì)對(duì)得出的輪廓度與位置度都造成非常大的影響。