蔡司三坐標(biāo)測量機優(yōu)點

1、基礎(chǔ)設(shè)施成本低

與測量范圍相比,其占地面積小,因此可大限度地減少所需空間

大限度地降低基礎(chǔ)要求,以降低基礎(chǔ)成本

配有測針的關(guān)節(jié)式探頭座可大限度地提高靈活性并降低成本

2、符合人體工程學(xué)的校正工作

全能的測量范圍視圖

步入式測量區(qū)域使得可直接在工件上進行有效分析

移動數(shù)據(jù)站適用于在工件上直接編程

蔡司  ConTURA   從容應(yīng)對各種挑戰(zhàn)--無論現(xiàn)在還是未來

ZEISS CMM CONTURA廣泛適用于各類型工件的測量，在大批量復(fù)雜零部件的生產(chǎn)過程中，快速獲得清晰的測量結(jié)果至關(guān)重要。關(guān)鍵時刻，測量結(jié)果更須確鑿無疑。來自蔡司的工業(yè)測量技術(shù)保證了高水平的質(zhì)量控制。 ZEISS CMM CONTURA廣泛適用于各類型工件的測量，固定平臺橋式機體設(shè)計，融合先進的DLC鉆石涂層材質(zhì)橫梁和Z軸結(jié)構(gòu)，結(jié)合機器移動時高穩(wěn)定設(shè)計，兼之高精度掃描測頭系統(tǒng)及眾多技術(shù)優(yōu)勢，確保了系統(tǒng)的精度及動態(tài)性能；同時，高剛性結(jié)構(gòu)提高了系統(tǒng)對于環(huán)境的抗干擾性能及長久的穩(wěn)定性。

蔡司三坐標(biāo)測量機

接觸式測頭采點

非接觸式光學(xué)測頭直接利用光點的反射信號來獲取被測點的坐標(biāo)，不存在半徑補償?shù)沫h(huán)節(jié)，因此能夠完全余弦誤差產(chǎn)生的源頭。再者，在測量易變性零件時，雖然測力不大，但零件還是會在力的作用下造成一定變形(例如下圖中的薄葉片，測量頂部截面時，葉盆時葉片受到測力影響朝葉背方向彎曲，反之亦然)。雖然彎曲變形量不大，但是考慮到葉片本身極薄，其相對變形量還是非?？捎^的，會對得出的輪廓度與位置度都造成非常大的影響。