一六 熒光測(cè)厚儀 十年以上研發(fā)團(tuán)隊(duì) 集研發(fā)生產(chǎn)銷售一體

元素分析范圍:氯(CI)- 鈾(U)   厚度分析范圍:各種元素及有機(jī)物

一次可同時(shí)分析:23層鍍層,24種元素 厚度檢出限:0.005um

鍍層厚度分析儀根據(jù)測(cè)量原理一般有以下五種類型:

1.磁性測(cè)厚法

適用導(dǎo)磁材料上的非導(dǎo)磁層厚度測(cè)量。導(dǎo)磁材料一般為：鋼、鐵、銀、鎳。此種方法測(cè)量精度高。

2.渦流測(cè)厚法

適用導(dǎo)電金屬上的非導(dǎo)電層厚度測(cè)量。此種方法較磁性測(cè)厚法精度低。

3.超聲波測(cè)厚法

目前國(guó)內(nèi)還沒有用此種方法測(cè)量涂鍍層厚度的，國(guó)外個(gè)別廠家有這樣的儀器，適用多層涂鍍層厚度的測(cè)量或則是以上兩種方法都無法測(cè)量的場(chǎng)合。但一般價(jià)格昂貴，測(cè)量精度也不高。

4.電解測(cè)厚法

此方法有別于以上三種，不屬于無損檢測(cè)，需要破壞涂鍍層。一般精度也不高。測(cè)量起來較其他幾種麻煩。

5.測(cè)厚法

此種儀器價(jià)格昂貴，適用于一些特殊場(chǎng)合。

江蘇一六儀器    X熒光光譜測(cè)厚儀

下照式設(shè)計(jì)：可以快速方便地定位對(duì)焦樣品。

  無損變焦檢測(cè):可對(duì)各種異形凹槽進(jìn)行無損檢測(cè)，凹槽深度范圍0-90mm。

  微聚焦射線裝置：可檢測(cè)面積小于0.002mm2的樣品，可測(cè)試各微小的部件。

  接收：即使測(cè)試0.01mm2以下的樣品，幾秒鐘也能達(dá)到穩(wěn)定性。

  精密微型滑軌：快速精準(zhǔn)定位樣品。

  EFP先進(jìn)算法軟件：多層多元素，甚至有同種元素在不同層也難不倒EFP算法軟件。

江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的高新技術(shù)企業(yè)。

X射線熒光光譜儀是基于X射線熒光光譜法而進(jìn)行分析的一種常見分析儀器。通常認(rèn)為X區(qū)域0.01-10nm之間的一段電磁波譜，短波邊以伽馬射線為界，長(zhǎng)波邊與真空紫外線區(qū)域的實(shí)際界線。

X射線熒光光譜儀特點(diǎn)

1、一種真正意義上 的無損分析，在分過程中不會(huì)改變樣品的化學(xué)形態(tài)。具有不污染、節(jié)能低耗等優(yōu)點(diǎn)。

2、分析速度快，無須進(jìn)行樣品預(yù)處理，升值無須樣品的制備，X射線熒光光譜分析可以篩選大量的樣品。一般情況下檢測(cè)在3分鐘以下。

3、自動(dòng)化程度高。

4、可以同時(shí)測(cè)定樣品中的多種元素。

5、隨著分析技術(shù)的發(fā)展，儀器可以滿足很多行業(yè)的需求。如：地質(zhì)礦產(chǎn)，冶金、化工、材料、石油勘探、考古、合金、土壤、鍍層等諸多行業(yè)。

6、樣品的形態(tài)廣。

7、X射線熒光光譜儀分為波長(zhǎng)色散譜儀和能量色散譜儀可以滿足各行個(gè)元素的需求。

8、X射線熒光光譜儀中的能量色散儀是低分辨率光譜儀已是在線分析的選擇儀器之一。

江蘇一六儀器  X射線熒光鍍層測(cè)厚儀應(yīng)用領(lǐng)域      

     集成電路是國(guó)民經(jīng)濟(jì)首要突破的行業(yè)，中國(guó)現(xiàn)代制造業(yè)的發(fā)展，集成電路是基礎(chǔ)。如果保證電路板生產(chǎn)的質(zhì)量，電鍍檢測(cè)重中之重！x射線熒光膜厚測(cè)厚儀為集成電路的發(fā)展，PCB線路板加工業(yè)的質(zhì)量保駕護(hù)航。價(jià)格一直是客戶在購(gòu)買時(shí)關(guān)心的問題，好質(zhì)量和售后服務(wù)的產(chǎn)品在價(jià)格上面往往比較高，所以客戶在選擇產(chǎn)品時(shí)選擇性價(jià)比高的就需要一定的了解，首先是品牌，其次是客戶調(diào)查，售后服務(wù)等。x射線熒光膜厚測(cè)厚儀可用于電力行業(yè)高壓開關(guān)柜所用的鍍銀件厚度測(cè)試，鍍錫測(cè)試。也可以用于首飾類產(chǎn)品的鍍銀層測(cè)厚，PCB線路板的鍍銀厚度分析?？梢詫?duì)能量范圍很寬的X射線同時(shí)進(jìn)行能量分辨(定性分析)和定量測(cè)定。 的詳細(xì)信息x射線熒光膜厚測(cè)厚儀可用于電力行業(yè)高壓開關(guān)柜所用的鍍銀件厚度測(cè)試，鍍錫測(cè)試。也可以用于首飾類產(chǎn)品的鍍銀層測(cè)厚，PCB線路板的鍍銀厚度分析。

      x射線熒光膜厚測(cè)厚儀已經(jīng)成為電力行業(yè)，PCB行業(yè)，首飾行業(yè)的鍍層分析的常規(guī)手段，比傳統(tǒng)的電解法測(cè)厚儀具有更快的測(cè)試速度和分析精度，也比切片法具有更快的分析效率。