SFR測(cè)試卡的功能

材料類型——半光亮材料和無光澤材料

半光亮材料測(cè)試卡有著更多的細(xì)節(jié)，在暗黑灰階部分有更深的階度，它用在更多的應(yīng)用方案中除了廣角鏡頭。

無光澤材料能夠更方便地照亮因?yàn)樗绕鸢牍饬敛牧?，有更少的反射光線。它的MTF值稍微低于半光亮材料并且沒有半光亮材料那么深的暗黑部灰階。

方塊及尺寸選項(xiàng)

5×9方塊的尺寸適用于大多數(shù)3：2的數(shù)碼單反攝像機(jī)和16：9的HDTV高清電視。

5×7方塊的尺寸適用于4：3高寬比的輕型攝像機(jī)。

噴墨打印機(jī)測(cè)試卡分辨率

所有我們的噴墨打印測(cè)試卡有一個(gè)MTF50值為5cycles/mm的值。一定要記住選擇合適尺寸的測(cè)試卡。太小的測(cè)試卡應(yīng)用于高分辨率傳感器，會(huì)導(dǎo)致測(cè)試卡的MTF值嚴(yán)重降低了攝像機(jī)系統(tǒng)測(cè)出來的MTF值。另外，要保證足夠大的測(cè)試卡以滿足小焦距，以及傳感器的分辨率。

測(cè)試卡大小

固潤(rùn)光電測(cè)試卡根據(jù)方塊規(guī)格主要有5中尺寸大小選項(xiàng)。12MP以下的攝像機(jī)推薦使用中型測(cè)試卡，高于12MP而低于24MP的攝像機(jī)推薦使用大型的測(cè)試卡，而超大的測(cè)試卡適用于高于24MP的攝像機(jī)。

ISO標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試卡

既然已經(jīng)有了MTF方式可以判斷相機(jī)和鏡頭的解像力，為什么還要發(fā)展不同的解像力測(cè)試方法呢？這個(gè)問題非常好，MTF理論經(jīng)過千錘百煉、驗(yàn)證無誤！但關(guān)鍵卻出在拍攝的樣版圖上！由于單純以線條所組成的MTF測(cè)試圖，本質(zhì)上就受制于輸出設(shè)備的極限，當(dāng)高達(dá)千萬畫素的DSLR 推出時(shí)，例如:Nikon D2X 或 Canon EOS 1Ds MKII等，其拍攝解像力就已經(jīng)超越傳統(tǒng)底片的表現(xiàn)（過去定義傳統(tǒng)135mm底片約為千畫畫素）。換言之，當(dāng)設(shè)備的進(jìn)步開始超越 USAF1951 和 ISO12233的極，該測(cè)試其實(shí)就已經(jīng)不存在相對(duì)上的意義。

監(jiān)控鏡頭注意事項(xiàng)

每個(gè)鏡頭在正式出廠前都需要鏡頭投影測(cè)試，在測(cè)試過程中可以了解圖像的均勻性，和生成圖像中心及邊緣的分辨率，以確保整體圖像質(zhì)量。無論是中心圖像還是邊緣圖像，對(duì)于整個(gè)圖像分辨率都起著至關(guān)重要的作用。

MTF無論在低頻表現(xiàn)還是在高頻表現(xiàn)都應(yīng)該是均衡的，因?yàn)楦哳l影響圖像分辨率，而低頻率是圖像清晰度對(duì)比效果。光圈大小在低光照環(huán)境下實(shí)現(xiàn)清晰圖像也發(fā)揮著重要作用。雖然應(yīng)用領(lǐng)域有所區(qū)別，但不同環(huán)境下透鏡的高可靠性確保鏡頭的穩(wěn)定性能。

原理利用光學(xué)原理將設(shè)備上的攝像頭掃描板子圖像，然后到的SMT加工的焊點(diǎn)數(shù)據(jù)與機(jī)器數(shù)據(jù)庫(kù)的臺(tái)格數(shù)據(jù)進(jìn)行比對(duì)，經(jīng)過圖像處理，標(biāo)記出PCBA焊接狀況。自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)，是基于光學(xué)原理來對(duì)焊接生產(chǎn)中遇到的常見缺陷進(jìn)行檢測(cè)的設(shè)備。AOI是新興起的一種新型測(cè)試技術(shù)，但發(fā)展迅速，很多廠家都推出了AOI測(cè)試設(shè)備。經(jīng)過不斷的摸索與論證，此時(shí)糾正缺陷的成本遠(yuǎn)遠(yuǎn)低于終測(cè)試之后進(jìn)行檢測(cè)的成本。CoaXPress圖像卡正是憑借著高速、高帶寬的特點(diǎn)，而正在逐漸被廣大廠商接受及采用的。