相位差光學材料量

產(chǎn)品特點：可更加精準的量測低相位差(0.1nm～)適合作為評估相位差的波長分散、自動檢測配向角(光學軸)或角度配向性等光學膜偏光特性的裝置。檢測器采用多頻譜分光光譜儀，展現(xiàn)任一個波長的相位差量測。

購買須知

1、廠家貨源正i品

日本原裝。

2、關于尺碼

按照出廠產(chǎn)品資料有說明。

3、關于顏色

4、關于客服

客戶全天24小時在線，如需緊急處理，請致電公司 。

5、關于售后

日本產(chǎn)品保修一年，消耗品不再維修范圍內。

大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、有機EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相 關材料的光學特性評價?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

偏光計測模組是用CCD camera的1shot來獲取多角度的偏光強度pattern，因與以往的偏光計測裝置相比，其無偏光子回旋機構，故其可維持其的測定及穩(wěn)定的性能。

因本系統(tǒng)為精密光學測定裝置，作為設置場所，請考慮以下條件。萬一，下記條件未被滿足的場合，本系統(tǒng)的性能有可能無法發(fā)揮其100%.請注意。

測定haze補正用樣品（與被測定樣品相同haze特性AG-TAC）,取得其補正table. 反復性能。(保證值)是利用本裝置附屬的基準樣本(偏光板)的測量結果（0.1s間隔 定點15回連續(xù)測量）。將粘貼面有漏出的樣品貼合與樣品治具上，反轉治具測定，玻璃上貼附樣品的場合，將超出部分的film定位與基準面，只反轉樣品進行測定。因本系統(tǒng)為精密光學測定裝置，作為設置場所，請考慮以下條件。