頭部集成了薄膜厚度測量所需功能

通過顯微光譜法測量高i精度絕i對反射率（多層膜厚度，光學(xué)常數(shù)）

1點1秒高速測量

顯微分光下廣范圍的光學(xué)系統(tǒng)（紫外至近紅外）

區(qū)域傳感器的安全機(jī)制

易于分析向?qū)?，初學(xué)者也能夠進(jìn)行光學(xué)常數(shù)分析

獨立測量頭對應(yīng)各種inline客制化需求

支持各種自定義

測量項目：

絕i對反射率測量

多層膜解析

光學(xué)常數(shù)分析（n：折射率，k：消光系數(shù)）

大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學(xué)特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、有機(jī)EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相 關(guān)材料的光學(xué)特性評價?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

硬涂層膜厚度的測量[FE-0004]

近年來，使用具有各種功能的高i性能薄膜的產(chǎn)品被廣泛使用，并且根據(jù)應(yīng)用不同，還需要提供具有諸如摩擦阻力，抗沖擊性，耐熱性，薄膜表面的耐化學(xué)性等性能的保護(hù)薄膜。通常保護(hù)膜層是使用形成的硬涂層（HC）膜，但是根據(jù)HC膜的厚度不同，可能出現(xiàn)不起保護(hù)膜的作用，膜中發(fā)生翹曲，或者外觀不均勻和變形等不良。 因此，管理HC層的膜厚值很有必要。

　膜厚儀廠家解釋凡其厚度與入射光波長相比擬的并能引起干涉現(xiàn)象(相干光程小于相干長度)的膜層為薄膜，其厚度遠(yuǎn)大于入射光波波長的膜層稱之為厚膜。如今，微電子薄膜，光學(xué)薄膜，抗1氧化薄膜，巨磁電阻薄膜，高溫超導(dǎo)薄膜等在工業(yè)生產(chǎn)和人類生活中的不斷應(yīng)用，在工業(yè)生產(chǎn)的薄膜，其厚度是一個非常重要的參數(shù)，直接關(guān)系到該薄膜材料能否正常工作。

膜厚測試儀波譜校準(zhǔn) 　　不關(guān)機(jī)狀態(tài)下每日必做一次或每次關(guān)機(jī)3小時以上再次重開機(jī)必做，目的讓儀器進(jìn)行自我補償調(diào)整。首先點擊任務(wù)欄中的“波譜校準(zhǔn)”，然后將波譜校準(zhǔn)片放入儀器，將Cu-Ag合金部分移至十字線中間，鐳射聚焦，測量（點擊Go鍵）。待膜厚測試儀器自動完成每一步，紅色STOP鍵會轉(zhuǎn)變成綠色GO鍵后，將純Ag部分移至十字線中間，鐳射聚焦，測量（點擊Go鍵），完成后出現(xiàn)“波譜校準(zhǔn)成功”字樣的對話框時，點擊“確定”即可。