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帶狀光纖熔接機(jī)
帶狀光纖熔接機(jī)主要用于光通信中,光纜的施工和維護(hù)。主要是靠發(fā)出電弧將兩頭光纖熔化,同時(shí)運(yùn)用準(zhǔn)直原理平緩?fù)七M(jìn),以實(shí)現(xiàn)光纖模場(chǎng)的耦合。注:此光纖是指光纜中的每一帶光纖。熔接機(jī)主要應(yīng)用于各大運(yùn)營(yíng)商,工程公司,企事業(yè)單位的光纜線路工程施工、線路維護(hù)、應(yīng)急搶修、光纖器件的生產(chǎn)測(cè)試以及科研院所的研究教學(xué)中。建議走比較有保證的快遞,再用氣泡膜多包幾層,最后用紙箱子裝好。
帶狀光纖的特點(diǎn)是比單根光纖寬,普通單芯通信光纖是直徑為0.125mm石英晶體材料組成的圓柱狀,而12芯帶狀光纖呈扁平狀,寬3mm。其整體接續(xù)要求12芯纖同時(shí)接續(xù),并同時(shí)熱縮保護(hù),終接續(xù)點(diǎn)體積同單芯光纖接續(xù)點(diǎn)一般大小,充分發(fā)揮帶狀光纖接續(xù)快速和方便的特點(diǎn)。如果做完以上操作后,熔接損耗仍舊過(guò)高或不穩(wěn)定,請(qǐng)與代理商聯(lián)系。
電纜測(cè)試儀
電纜故障測(cè)試儀用于檢測(cè)電纜故障,儀器種類、儀器型號(hào)大量增加,現(xiàn)在國(guó)內(nèi)電纜故障測(cè)試儀器市場(chǎng)上,供應(yīng)的儀器種類、儀器名稱種類繁多,除了我們常見的電纜故障測(cè)試儀以外,市場(chǎng)上陸續(xù)出現(xiàn)了直埋電纜故障測(cè)試儀、路燈電纜故障測(cè)試儀、中低壓電纜檢測(cè)儀、電纜接地故障測(cè)試儀、礦井電纜故障測(cè)試儀等等。正增益是由于在熔接點(diǎn)之后的光纖比熔接點(diǎn)之前的光纖產(chǎn)生更多的后向散光而形成的。
測(cè)試原理
任何電纜故障的測(cè)試,均以找到故障發(fā)生點(diǎn)為終目的,但就其測(cè)試過(guò)程來(lái)說(shuō),一般分為三個(gè)步驟:一為故障距離粗測(cè);二是尋找故障電纜埋設(shè)路徑;三是準(zhǔn)確定位故障點(diǎn)。當(dāng)然,實(shí)際測(cè)試中,三個(gè)步驟是根據(jù)現(xiàn)場(chǎng)情況靈活運(yùn)用的。
如何降低光纖熔接損耗?
選用精度高的光纖端面切割器來(lái)制備光纖端面,光纖端面的好壞直接影響到熔接損耗大小,切割的光纖應(yīng)為平整的鏡面,刺,無(wú)缺損。光纖端面的軸線傾角應(yīng)小于1度,的光纖端面切割器不但提高光纖切割的成功率,也可以提高光纖端面的質(zhì)量。這對(duì)OTDR測(cè)試不著的熔接點(diǎn)(即OTDR測(cè)試盲點(diǎn))和光纖維護(hù)及搶修尤為重要。2M誤碼儀用2Mb/sN*64Kb/s誤碼測(cè)試、離線測(cè)試、FAS、CRC-4、E-BIT等測(cè)試的儀器,如Enovo的3120C一樣,測(cè)試結(jié)果擁有很高的準(zhǔn)確率。
新手使用光纖熔接機(jī)易犯的幾個(gè)錯(cuò)誤(4)
光纖出現(xiàn)微彎曲:
光纖出現(xiàn)微彎曲一般是光纖上過(guò)度的壓力導(dǎo)致的,光纖微彎曲會(huì)導(dǎo)致信號(hào)質(zhì)量下降,而且這種問題光憑肉眼很難發(fā)現(xiàn),除非用OTDR去檢查。
是什么造成光纖微彎曲?應(yīng)該是光纖上過(guò)度的壓力。常見的原因是當(dāng)固定光纜時(shí)過(guò)緊。其他造成光纖微彎曲的原因可能是光纜在設(shè)備面板轉(zhuǎn)軸位置造成的。
對(duì)于光纖熔接來(lái)說(shuō),一個(gè)好的選項(xiàng)是使用透明的套管來(lái)包裝熔接點(diǎn)。這種松套管會(huì)塑形到透明套管形成緊密的封裝。然后這些透明套管被放入接線盤中并固定。固定的結(jié)會(huì)在硬塑料套管外層自由滑動(dòng)。這可以避免光纖移動(dòng)時(shí)任何擠壓,造成今后不必要的許多問題。