一六 熒光測厚儀 十年以上研發(fā)團(tuán)隊(duì) 集研發(fā)生產(chǎn)銷售一體

元素分析范圍:氯(CI)- 鈾(U)   厚度分析范圍:各種元素及有機(jī)物

一次可同時(shí)分析:23層鍍層,24種元素 厚度檢出限:0.005um

鍍層厚度分析儀簡介鍍層厚度分析儀又叫涂鍍層測量儀、電鍍層測試儀、防腐層檢測儀、涂鍍層測試儀、涂鍍層測量儀、油漆測厚儀價(jià)格、油漆層測厚儀、油漆膜厚儀、鋼結(jié)構(gòu)油漆層測厚儀、鋼板油漆測厚儀、鋼管油漆測厚儀、油漆防腐層測厚儀、油罐防腐層測厚儀可無損地測量磁性金屬基體（如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等）上非磁性涂層的厚度（如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等）及非磁性金屬基體（如銅、鋁、鋅、錫等）上非導(dǎo)電覆層的厚度（如：琺瑯、橡膠、油漆、塑料等）。生成報(bào)告：點(diǎn)擊預(yù)覽報(bào)告可以對測試報(bào)告內(nèi)容和格式進(jìn)行調(diào)整，還可以電子版保存報(bào)告和直接打印紙質(zhì)報(bào)告15。涂鍍層測厚儀具有測量誤差小、可靠性高、穩(wěn)定性好、操作簡便等特點(diǎn)，是控制和保證產(chǎn)品質(zhì)量必不可少的檢測儀器，廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領(lǐng)域。

鍍層厚度測量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測的重要環(huán)節(jié)，是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的必要手段。為使產(chǎn)品國際化，我國出口商品和涉外項(xiàng)目中，對鍍層厚度有了明確要求。

鍍層厚度分析儀的測量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測量法及渦流測量法等等。這些方法中前五種是有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗(yàn)。

X射線和β射線法是無接觸無損測量，測量范圍較小，X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆層測厚時(shí)采用。

隨著技術(shù)的日益進(jìn)步，特別是近年來引入微機(jī)技術(shù)后，X射線鍍層厚度分析儀向微型、智能、多功能、、實(shí)用化的方向進(jìn)了一步。測量的分辨率已達(dá)0.1微米，精度可達(dá)到1%，有了大幅度的提高。微聚焦X射線管配合比例接收能實(shí)現(xiàn)高計(jì)數(shù)率，可以進(jìn)行高精度測量。它適用范圍廣，量程寬、操作簡便且價(jià)廉，是工業(yè)和科研使用廣泛的測厚儀器。

一六儀器 專業(yè)測厚儀 多道脈沖分析采集,先進(jìn)EFP算法  X射線熒光鍍層測厚儀

應(yīng)用于電子元器件,LED和照明,家用電器,通訊,汽車電子領(lǐng)域.EFP算法結(jié)合精準(zhǔn)定位決了各種大小異形多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題

上照式：通常都有Z軸可移動，所以可對形狀復(fù)雜的樣品（如凹面內(nèi)）做定位并且測試，一般可定位到2mm以內(nèi)的深度，如Thick800A，另外有些廠商在此基礎(chǔ)上配備了可變焦裝置，搭配先進(jìn)的算法，可定位到80mm以內(nèi)的深度，如XDL237

下照式：通常都沒有Z軸可移動，所以不可對凹面等無法直接接觸測試窗口的位置進(jìn)行定位并測試，但操作簡單，造價(jià)相對低；部分廠商或款式儀器搭載變焦裝置也可測試復(fù)雜形狀樣品，同時(shí)也抬高了價(jià)格

      江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的高新技術(shù)企業(yè)。公司位于上海和蘇州中間的昆山市城北高新區(qū)。我們專業(yè)的研發(fā)團(tuán)隊(duì)具備十年以上的從業(yè)經(jīng)驗(yàn)，經(jīng)與海內(nèi)外多名專家通力合作，研究開發(fā)出一系列能量色散X熒光光譜儀。

測厚范圍可測定厚度范圍:取決于用戶的具體應(yīng)用。將列表可測定的厚度范圍-基本分析功能無標(biāo)樣檢量線測厚，可采用一點(diǎn)或多點(diǎn)標(biāo)準(zhǔn)樣品自動進(jìn)行基本參數(shù)方法校正。一六熒光測厚儀十年以上研發(fā)團(tuán)隊(duì)集研發(fā)生產(chǎn)銷售一體元素分析范圍:氯(CI)-鈾(U)厚度分析范圍:各種元素及有機(jī)物一次可同時(shí)分析:23層鍍層,24種元素厚度檢出限:0。根據(jù)客戶本身應(yīng)用提供必要的校正用標(biāo)準(zhǔn)樣品。樣品種類:鍍層、涂層、薄膜、液體(鍍液中的元素含量)可檢測元素范圍:Ti22–U92可同時(shí)測定5層/15種元素/共存元素校正組成分析時(shí)，可同時(shí)測定15種元素多達(dá)4個(gè)樣品的光譜同時(shí)顯示和比較元素光譜定性分析-調(diào)整和校正功能系統(tǒng)自動調(diào)整和校正功能:校正X射線管、探測器和電子線路的變化對分析結(jié)果的影響，自動消除系統(tǒng)漂移譜峰計(jì)數(shù)時(shí)，峰漂移自動校正功能譜峰死時(shí)間自動校正功能譜峰脈沖堆積自動剔除功能標(biāo)準(zhǔn)樣品和實(shí)測樣品間，密度校正功能譜峰重疊剝離和峰形擬合計(jì)算-測量自動化功能(要求XY程控機(jī)構(gòu))鼠標(biāo)控制測量模式:'PointandShoot'多點(diǎn)自動測量模式:隨機(jī)模式、線性模式、梯度模式、掃描模式、和重復(fù)測量模式測量位置預(yù)覽功能激光對焦和自動對焦功能-樣品臺程控功能(要求XY程控機(jī)構(gòu))設(shè)定測量點(diǎn)oneorTwoDatumn(reference)Pointsoneachfile測量位置預(yù)覽