AOI軟件中有一個(gè)綜合性的驗(yàn)證功能，它能減少檢查的誤報(bào)，保證檢測(cè)程序無(wú)缺陷。它可以檢查儲(chǔ)存起來(lái)的有缺陷的樣品，例如，修理站存放的樣品，以及印刷了焊膏的空白印刷電路板。至于冷光源,是一種近段時(shí)間發(fā)展起來(lái)的新型照明光源,用光導(dǎo)纖維傳光束(簡(jiǎn)稱光纜)將其發(fā)出的光束傳至照明的地方。在優(yōu)化階段，在這方面花時(shí)間的原因是為了不讓任何缺陷溜過(guò)去。所有已知的缺陷都必須檢查，同時(shí)要把允許出現(xiàn)的誤報(bào)數(shù)量做到。在針對(duì)減少誤報(bào)而對(duì)任何程序進(jìn)行調(diào)整時(shí)，要檢查一下，看看以前檢查出來(lái)的真正缺陷，是否得到維修站的證實(shí)。通過(guò)綜合的核實(shí)，保證檢查程序的質(zhì)量，用于專門的制造和核查，同時(shí)對(duì)誤報(bào)進(jìn)行。

AOI在回熔溫度較高以及使用侵蝕性更強(qiáng)的助焊劑時(shí)，也會(huì)導(dǎo)致與助焊劑直接接觸的較薄的元件受到侵蝕，元件頂部不能夠反射光線。隨著行業(yè)技術(shù)的快速提升以及勞動(dòng)力成本的不斷提高，自動(dòng)化、智能化在電子生產(chǎn)領(lǐng)域起著至關(guān)重要的作用。流動(dòng)性的改變和侵蝕性助焊劑，對(duì)R0402型元件的影響比C0402型元件大，因?yàn)镽0402型元件更輕也更薄。在使用R0603元件時(shí)，這也不常見。

AOI技術(shù)領(lǐng)域非常廣泛，廣義的AOI設(shè)備為結(jié)合光學(xué)傳感系統(tǒng)、訊號(hào)處理系統(tǒng)及分析軟件，應(yīng)用層面可包括宇宙探測(cè)、航空、遙測(cè)、生物醫(yī)學(xué)、工業(yè)生產(chǎn)品質(zhì)檢測(cè)、指紋比對(duì)、機(jī)器人控制、多媒體技術(shù)。

AOI產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于智能終端、可穿戴設(shè)備、電信網(wǎng)絡(luò)、航空航天、汽車電子等各個(gè)領(lǐng)域，為客戶提供高檢出、低誤報(bào)、簡(jiǎn)單易用、功能強(qiáng)大的視覺檢查系統(tǒng)。

近年來(lái)軟件方面, 使用了很多電路板圖像的檢測(cè)算法, 這些算法大致可分為三大類: 有參考比較算法、無(wú)參考校驗(yàn)法以及混合型算法。有參考比較算法分為兩大類, 圖像對(duì)比法和模型對(duì)比法。這類方法算法簡(jiǎn)單, 容易實(shí)現(xiàn), 但是它不容易檢測(cè)線寬、線距違例等瑕疵。●具備DIP件焊點(diǎn)專用算法配備手插及機(jī)插式DIP件檢測(cè)專用算法。無(wú)參考校驗(yàn)法不需要任何參考圖象, 它依據(jù)預(yù)先定義的 PCB 的設(shè)計(jì)規(guī)則來(lái)判斷待檢 PCB 圖象是否有瑕疵, 如果它不符合設(shè)計(jì)規(guī)則, 就認(rèn)為有瑕疵, 因此也稱為設(shè)計(jì)規(guī)則校驗(yàn)法。這類方法雖然在榆測(cè)線寬、線距違例這類瑕疵時(shí)能夠收到很好的效果, 但是其算法復(fù)雜, 運(yùn)算量很大, 而且易漏柃線、焊盤丟失等大瑕疵?；旌闲头椒ㄊ菍⒂袇⒖急容^算法與無(wú)參考校驗(yàn)法混合使用, 在一定程度上克服了前兩類方法的缺點(diǎn),從而發(fā)揮它們各自的優(yōu)點(diǎn)。比如, 模板匹配法與數(shù)學(xué)形態(tài)學(xué)方法結(jié)合使用, 或者連接表方法與數(shù)學(xué)形態(tài)學(xué)方法結(jié)合使用等。但當(dāng)前這種方法還不足很成熟, 其算法復(fù)雜, 不能滿足實(shí)時(shí)檢測(cè)的要求, 且自適應(yīng)性不夠, 系統(tǒng)擴(kuò)展能力差。當(dāng)前 AOI 檢測(cè)系統(tǒng)圖像處理基本上采用的是參考算法, 國(guó)外進(jìn)口品牌大多使用圖像匹配、法則判別登多種組合手段。