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泰州電鍍膜厚儀性?xún)r(jià)比高 一六儀器

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發(fā)布時(shí)間:2020-11-08 10:20  







一六儀器 專(zhuān)業(yè)測(cè)厚儀 多道脈沖分析采集,先進(jìn)EFP算法  X射線熒光鍍層測(cè)厚儀

應(yīng)用于電子元器件,LED和照明,家用電器,通訊,汽車(chē)電子領(lǐng)域.EFP算法結(jié)合精準(zhǔn)定位決了各種大小異形多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題

軟件算法


?大致分為3個(gè)方法。一個(gè)是制作測(cè)量線的方法(經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法)。這個(gè)方法是測(cè)定幾點(diǎn)實(shí)際的已知厚度樣品,尋求想測(cè)定元素的熒光X射線強(qiáng)度和厚度之間的關(guān)系,以其結(jié)果為基礎(chǔ)測(cè)定未知樣品取得熒光X射線,從而得到濃度值。

?另一個(gè)方法是理論演算的基礎(chǔ)參數(shù)法(FP法)。這個(gè)方法在完全了解樣品的構(gòu)成和元素種類(lèi)前提,利用計(jì)算的各個(gè)熒光X射線強(qiáng)度的理論值,推測(cè)測(cè)定得到未知樣品各個(gè)元素的熒光X射線強(qiáng)度的組成一致。

?NBS-GSC法也稱(chēng)作理論Alpha系數(shù)法。它是基于熒光X射線激發(fā)的基本原理,從理論上使用基本物理參數(shù)計(jì)算出樣品中每個(gè)元素的一次和二次特征X射線熒光強(qiáng)度的?;诖嗽儆?jì)算Lachance綜合校正系數(shù),然后使用這些理論α系數(shù)去校正元素間的吸收增強(qiáng)。準(zhǔn)直器任意選擇或者任意切換最近測(cè)距光斑擴(kuò)散度:9%測(cè)量距離:具有距離補(bǔ)償功能,可改變測(cè)量距離,能測(cè)量凹凸異型樣品,變焦距離0-30mm(特殊要求可以升級(jí)到90mm)樣品觀察:1/2。它與經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法不同,這些校正系數(shù)是從“理論”上取得的,而非建立在“經(jīng)驗(yàn)”上。因而它也不需要那么多的標(biāo)樣,只要少數(shù)標(biāo)樣來(lái)校準(zhǔn)儀器因子。



      江蘇一六儀器有限公司是一家專(zhuān)注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷(xiāo)售的高新技術(shù)企業(yè)。公司位于上海和蘇州中間的昆山市城北高新區(qū)。我們專(zhuān)業(yè)的研發(fā)團(tuán)隊(duì)具備十年以上的從業(yè)經(jīng)驗(yàn),經(jīng)與海內(nèi)外多名專(zhuān)家通力合作,研究開(kāi)發(fā)出一系列能量色散X熒光光譜儀。


測(cè)厚范圍可測(cè)定厚度范圍:取決于用戶的具體應(yīng)用。將列表可測(cè)定的厚度范圍-基本分析功能無(wú)標(biāo)樣檢量線測(cè)厚,可采用一點(diǎn)或多點(diǎn)標(biāo)準(zhǔn)樣品自動(dòng)進(jìn)行基本參數(shù)方法校正。經(jīng)典模型認(rèn)為物質(zhì)的表面并不是一個(gè)抽象的幾何概念,而是由剛性球的原子(分子)緊密排列而成,是實(shí)際存在的一個(gè)物理概念。根據(jù)客戶本身應(yīng)用提供必要的校正用標(biāo)準(zhǔn)樣品。樣品種類(lèi):鍍層、涂層、薄膜、液體(鍍液中的元素含量)可檢測(cè)元素范圍:Ti22–U92可同時(shí)測(cè)定5層/15種元素/共存元素校正組成分析時(shí),可同時(shí)測(cè)定15種元素多達(dá)4個(gè)樣品的光譜同時(shí)顯示和比較元素光譜定性分析-調(diào)整和校正功能系統(tǒng)自動(dòng)調(diào)整和校正功能:校正X射線管、探測(cè)器和電子線路的變化對(duì)分析結(jié)果的影響,自動(dòng)消除系統(tǒng)漂移譜峰計(jì)數(shù)時(shí),峰漂移自動(dòng)校正功能譜峰死時(shí)間自動(dòng)校正功能譜峰脈沖堆積自動(dòng)剔除功能標(biāo)準(zhǔn)樣品和實(shí)測(cè)樣品間,密度校正功能譜峰重疊剝離和峰形擬合計(jì)算-測(cè)量自動(dòng)化功能(要求XY程控機(jī)構(gòu))鼠標(biāo)控制測(cè)量模式:'PointandShoot'多點(diǎn)自動(dòng)測(cè)量模式:隨機(jī)模式、線性模式、梯度模式、掃描模式、和重復(fù)測(cè)量模式測(cè)量位置預(yù)覽功能激光對(duì)焦和自動(dòng)對(duì)焦功能-樣品臺(tái)程控功能(要求XY程控機(jī)構(gòu))設(shè)定測(cè)量點(diǎn)oneorTwoDatumn(reference)Pointsoneachfile測(cè)量位置預(yù)覽


      江蘇一六儀器有限公司是一家專(zhuān)注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷(xiāo)售的高新技術(shù)企業(yè)。公司位于上海和蘇州中間的昆山市城北高新區(qū)。我們專(zhuān)業(yè)的研發(fā)團(tuán)隊(duì)具備十年以上的從業(yè)經(jīng)驗(yàn),經(jīng)與海內(nèi)外多名專(zhuān)家通力合作,研究開(kāi)發(fā)出一系列能量色散X熒光光譜儀

      X射線熒光測(cè)厚儀操作注意事項(xiàng):

測(cè)厚儀操作時(shí)候需要注意的:


技術(shù)指標(biāo):

1 分析元素范圍:Cl(17)-U(92)

2 同時(shí)可分析多達(dá)5層鍍層以上

3 分析厚度檢出限高達(dá)0.01μm

4 多次測(cè)量重復(fù)性高可達(dá)0.01μm

5測(cè)量時(shí)間:5s-300s

6 計(jì)數(shù)率:0-8000cps

測(cè)厚儀操作流程


打開(kāi)儀器開(kāi)關(guān)----在電腦上開(kāi)啟軟件-------開(kāi)高壓鑰匙-------聯(lián)機(jī)------預(yù)熱-----峰位校正------新建程式------選擇相應(yīng)的程式-----測(cè)試樣品----出報(bào)告


一六 熒光測(cè)厚儀 十年以上研發(fā)團(tuán)隊(duì) 集研發(fā)生產(chǎn)銷(xiāo)售一體

元素分析范圍:氯(CI)- 鈾(U)   厚度分析范圍:各種元素及有機(jī)物

一次可同時(shí)分析:23層鍍層,24種元素   厚度檢出限:0.005um

選擇Elite(一六儀器)X射線熒光鍍層測(cè)厚儀理由:

   根據(jù)IPC規(guī)程,必須使用整塊的標(biāo)準(zhǔn)片來(lái)校正儀器,對(duì)于多鍍層的測(cè)量,目前大多數(shù)客戶購(gòu)買(mǎi)的測(cè)厚儀采用的是多種箔片疊加測(cè)量校正,比如測(cè)量PCB板上的Au/Pd/Ni/Cu,因?yàn)闇y(cè)量點(diǎn)很小,測(cè)量距離的變化對(duì)測(cè)量結(jié)果有較大影響,如果使用Au,Pd,Ni三種箔片疊加校正,校正的時(shí)候箔片之間是有空氣,并且Pb元素與空氣的頻譜重疊,以上會(huì)對(duì)測(cè)量結(jié)果產(chǎn)生較大影響,Elite(一六儀器)測(cè)厚儀有電鍍好的整塊的Au/Pd/Ni/base標(biāo)準(zhǔn)片,不需要幾種箔片疊加校正,可以確保鍍層測(cè)量的準(zhǔn)確性。從準(zhǔn)儀照射測(cè)定物的位置,可由倍率率更機(jī)能來(lái)實(shí)現(xiàn)盡面上測(cè)出物放大。

2、采用微聚焦X射線管,油槽式設(shè)計(jì),工作時(shí)采用油冷,長(zhǎng)期使用時(shí)壽命更長(zhǎng)。微聚焦X射線管配合比例接收能實(shí)現(xiàn)高計(jì)數(shù)率,可以進(jìn)行測(cè)量。

3、Elite(一六儀器)WinFTM專(zhuān)用軟件,具有強(qiáng)大且界面友好、中英文切換,多可同時(shí)測(cè)量23層鍍層,24種元素,測(cè)量數(shù)據(jù)可直接以WORD格式或EXCEL格式輸出、打印、保存。通過(guò)測(cè)定特征X射線的能量,便可以確定相應(yīng)元素的存在,而特征X射線的強(qiáng)弱(或者說(shuō)X射線光子的多少)則代表該元素的含量或厚度。采用基本參數(shù)法(FP),有內(nèi)置頻譜庫(kù),無(wú)論是鍍層系統(tǒng)還是固體和液體樣品,都能在沒(méi)有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下進(jìn)行準(zhǔn)確的分析和測(cè)量。

4、 Elite(一六儀器)針對(duì)PCB(印制電路板)線路板上的鍍層厚度及分析而設(shè)計(jì)的X射線熒光測(cè)厚儀(XDLM-PCB200/PCB210系列)具有以下特點(diǎn):1)工作臺(tái)有手動(dòng)和程序控制供客戶選擇,2)采用開(kāi)槽式設(shè)計(jì)和配置加長(zhǎng)型樣品平臺(tái),用于檢測(cè)大尺寸的線路板。能量色散X射線熒光光譜分析相對(duì)其他分析方法,具有無(wú)需對(duì)樣品進(jìn)行特別的化學(xué)處理、快速,方便,測(cè)量成本低等明顯優(yōu)勢(shì),特別適合用于各類(lèi)相關(guān)企業(yè)作為過(guò)程控制和檢測(cè)使用。



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